Bài thuyết trình AFM (Atomic Force Microscope)

L ỊCH SỬ PHÁT TRIỂN:Kính hiển vi lực nguyên tử đƣợc hai nhà bác học Binnig và Rohrer chế tạo vào năm 1986 Loại kính này đƣợc phát triển từ một loại kính hiển vi tunen cũng do hai ông

(ATOMIC FORCE MICROSCOPE)

TRƯỜNG ĐẠI HỌC KHOA HỌC TỰ NHIÊN

L ỊCH SỬ PHÁT TRIỂN:

Kính hiển vi lực nguyên tử đƣợc hai nhà

bác học Binnig và Rohrer chế tạo vào

năm 1986

Loại kính này đƣợc phát triển từ một loại

kính hiển vi tunen cũng do hai ông chế tạo vào năm 1982

Kính có độ phân giải ở cấp độ nanômét

CẤU TẠO:

 Kính hiển vi lực nguyên tử gồm 6 bộ phận:

1.Mũi nhọn:

 Đƣợc làm bằng silic nitrit(Si3N4)

2.Cantilever(cần quét):

 Nó cũng đƣợc cấu tạo từ Si3N4(cantilever)

3.Nguồn laser:

4.Miroir( phản xạ phương)

5.Hai nữa tấm pin quang điện (photodiode)

6.Bộ quét áp điện:

CƠ CHẾ ĐO:

Chiếu chùm tia laze vào mặt phản xạ của cần quét

Chiếu chùm tia laze vào mặt phản xạ của cần quét(tiếp theo)

Khi đầu dò quét lên bề mặt

mẫu,do sự mấp

mô của bề mặt mẫu đầu dò sẽ rung lên

theophương thẳng đứng, chùm tia laze phản xạ trên cần quét sẽ bị

xê dịch.

(tiếp theo)

Khi đầu dò đƣa lại gần bề mặt mẫu thì xuất hiện

những lực giữa đẫu dò

và bề mặt mẫu.

Nếu đầu dò quét ở chiều cao không đổi

Thông thường bề mẫu được gắn vào ống điện tử.

Máy AFM có thể thao tác trong nhiều chế độ khác nhau.

AFM đo đƣợc cả cho vật dẫn điện và cách điện

ƯU ĐIỂM VÀ NHƯỢC ĐIỂM:

Là một thiết

bị rất nhạy có thể đo lực rất nhỏ ở

khoảng cách nhỏ hơn

đường kính sợi tóc cả

trăm lần

Ưu điểm:

AFM cung cấp thông tin ba chiều của

bề mặt mẫu

Đo đƣợc cho vật dẫn điện và cách điện.

Mẫu chuẩn bị đơn giản,cho thông tin đầy đủ hơn so với hình ảnh

của hiển vi điện tử truyền qua.

AFM có thể làm việc ở điều kiện bình thường.

 Thiết bị này có thể xác định các thành phần và cấu trúc địa

phương bằng cách sử dụng một phương pháp xác định cực kỳ

chính xác, thậm chí có thể sử

dụng cho thao tác đến từng loại nguyên tử - một đặc tính mà có thể cho phép xây dựng cấu trúc nano tới từng nguyên tử.

Nhƣợc điểm:

• Khi kể đến hình dạng đầu dò

và lực tiếp xúc thì sự phụ thuộc của lực vào khoảng cách trong AFM là rất phức tạp

•Gặp khó khăn trong việc tìm

hiểu cấu trúc nguyên tử