XÁC NHẬN GIÁ TRỊ sử DỤNG của PHƯƠNG PHÁP (method validation

lý khoa học; tích chính xác; tính ổn của phương pháp; nguồn lực thựccủa khách hàng/chấp nhận của phápphổ biến; thời gian và giá thành… tin cậy để đảm bảo rằng bất kỳ mộtdựa trên kết quả

XÁC NHẬN GIÁ TRỊ SỬ DỤNG

CỦA PHƯƠNG PHÁP (Method Validation)

Người trình bày: Đoàn Văn Oánh

 Tại sao thực hiện MV là cần thiết?

 Khi nào thì cần thực hiện MV?

 Khi nào thì cần thực hiện MV?

2 Thông số đặc trưng khi thực hiện MV

 Độ tuyến tính & Khoảng làm việc

 Giới hạn phát hiện (Detection Limit)

 Giới hạn định lượng (Quantitation Limit)

tuyến tính & Khoảng làm việctuyến tính & Khoảng làm việc

hưởng

 Cung cấp các kết quả tin

quyết định nào đưa ra dựa

 Đáp ứng yêu cầu của ISO/IEC 17025

 Đáp ứng yêu cầu của ISO/IEC 17025

Tại sao cần thiết phải thực hiện MV?

lý khoa học; tích chính xác; tính ổn

của phương pháp; nguồn lực thựccủa khách hàng/chấp nhận của phápphổ biến; thời gian và giá thành…

tin cậy để đảm bảo rằng bất kỳ mộtdựa trên kết quả đó là đáng tin cậyISO/IEC 17025

ISO/IEC 17025

Khi nào cần thực hiện MV

 Phương pháp mới đối với một vấn

Khi QC chỉ ra rằng phương pháp đã thay đổi theo thời gianKhi phương pháp thiết lập được đưa vào sử dụng

Trong một PTN khácVới người phân tích khác

đương giữa 2 phương pháp

mớimới

2 Nếu cần thiết, cải tiến

3 Khi các yêu cầu được

Tiến trình thực hiện (tiếp)

phương phấp để đáp ứng yêu cầuđược đáp ứng cần phải văn bản hoáquả phê duyệt phương pháp

thủ tục kiểm soát chất lượng

cậy, cùng với các quy trình kiểm soát

cậy, cùng với các quy trình kiểm soáttham gia thử nghiệm thành thạo đểcậy liên tục

 Đại diện cho loại mẫu đang được

 Được vận chuyển và lưu giữ

nguyên vẹn của mẫu

 Được phân tích trong khoảng

 thời điểm lấy mẫu

 Vật liệu/Hóa chất được thêm

thêm vào để ổn định mẫu cần phải được

thiết bị lấy mẫu cần phải được quy định một số hiểu biết, nhận thức về độ không

trình lấy mẫu vì nó ảnh hưởng đến sự trình phân tích

Mức độ gần nhau giữa các kết quả thử nghiệm

được trong cùng điều kiện quy

Độ chụm thường được biểu diễn bởi các thuật ngữ sau

 Độ lệch chuẩn tương đối

 Độ lệch chuẩn trung bình (SDM) của các thí nghiệm lặp

 Độ lệch chuẩn trung bình (SDM) của các thí nghiệm lặp

biết như sai số chuẩn của các giá trị trung bình

Độ chụm (Precision)

gần nhau giữa các kết quả thử nghiệm độc lập thu

iều kiện quy định

biểu diễn bởi các thuật ngữ sau

(RSD) hoặc hệ số biến thiên (CV)

Độ lệch chuẩn trung bình (SDM) của các thí nghiệm lặp được

Độ lệch chuẩn trung bình (SDM) của các thí nghiệm lặp được

sai số chuẩn của các giá trị trung bình

biến đổi của các kết quả đo trong thời

Độ lặp lại là độ chụm của các kết quả được đo dưới điều

Cùng vật liệu thử nghiệmCùng phòng thí nghiệm

Trong khoảng thời gian ngắnTrong khoảng thời gian ngắn

- Trong thời gian dài

biến đổi của các kết quả đo trong

Độ chụm/Độ tái lập (Reproducibility)

Độ tái lập là độ chụm của các kết quả được đo dưới điều

Cùng vật liệu thử nghiệm

Khác phòng thí nghiệm

Y Độ chụm trung gian là phép đo sự

trong thời gian dài trong một phòng thí nghiệm

Độ chụm trung gian là độ chụm của các kết quả được đo dưới

Độ chụm/Độ chụm trung gian (Intermediate)

- Trong khoảng thời gian dài (1

là phép đo sự biến đổi của các kết quả đo dài trong một phòng thí nghiệm

Độ chụm trung gian là độ chụm của các kết quả được đo dưới

Độ chụm/Độ chụm trung gian (Intermediate)

Độ chụm trung gian là độ chụm của các kết quả được đo dưới

Cùng vật liệu thử nghiệm

điều kiện đo

thực hiện Khác ngày thực hiện

Trong khoảng thời gian dài (1-3 tháng)

 Yêu cầu tối thiểu trong phân tích n

 Độ chụm phụ thuộc vào nền mẫu và nồng độ phân tính, ước tính trên toàn dải nồng độ làm việc

Độ chụm phụ thuộc vào nền mẫu và nồng độ phân tính, ước tính trên toàn dải nồng độ làm việc

-10 -20

Độ chệch có thể âm hoặc dương

Mức độ sai khác giữa kỳ vọng của các kết quả thử nghiệm và giá trị qui chiếu được chấp nhận

Nghiên cứu độ chệch là nghiên cứu tổng sai số hệ thống Sự sai khác hệ thống so với giá trị quy chiếu được chấp nhận càng lớn thì độ chệch càng lớn

Độ chệch phòng thí nghiệm

Độ chệch phương pháp

Độ chệch có thể âm hoặc dương

Độ chệch có thể âm hoặc dương

 Phân tích các chất chuẩn nền phù hợp

độ thu hồi mẫu thêm chuẩn

sai số từ việc thêm chuẩn

lượng chất thêm chuẩn

Ví dụ: Xác định Atrazine trong nước

Ví dụ: Xác định Atrazine trong nước

32.4 ng/L) – 15.0 ng/L 15.0 ng/L

Khi có một sai số lớn mà không thể loại bỏ

 Người sử dụng số liệu phân tích cần phải tồn tại của chúng

 Hiệu chỉnh phép đo hàng ngày

 Báo cáo giá trị đo và sai số riêng rẽ

 Độ không đảm bảo đo (MU) kết hợp với hiệu chỉnh sai số

Y Khi có một sai số lớn mà không thể loại bỏ

sử dụng số liệu phân tích cần phải được cảnh báo sự

o hàng ngày

o và sai số riêng rẽ

o (MU) kết hợp với hiệu chỉnh sai số

Accurate but Đúng và Không Chụm và Không

Đúng

Độ đúng (Độ chệch) Vs Độ chụm

Accurate but imprecise

Đúng và Chụm Đúng và Không

Chụm

chọn lọc (Selectivity)

vs.

phát xạ nguyên tử, Phổ huỳnh quang,

vs.

Khoảng tuyến tính và khoảng làm việc

(Linearity and Working range)

 Khoảng tuyến tính: khoảng

phương pháp phân tích chonồng độ chất phân tích

 Khoảng làm việc: khoảng

thiết bị cho tín hiệu đáp ứngTính toán độ tuyến tính và

 Phân tích các mẫu chuẩn

 Tối thiểu phân tích tại 6

Khoảng tuyến tính và khoảng làm việc

(Linearity and Working range)

khoảng nồng độ của chất phân tích mà

cho kết quả phân tích tỷ lệ thuận với

khoảng nồng độ của chất phân tích mà

ứng tốt

và khoảng làm việcchuẩn đã biết nồng độ

6 cấp nồng độquả thu được

quả thu đượctính bằng hệ số hồi quy r2 > 0,99tuyến tính tương đối, cận trên và cậnlàm việc

Giới hạn phát hiện (LoD) và

 Giới hạn phát hiện (LoD)

có thể phát hiện được nhưnglượng trong điều kiện thí

 Giới hạn phát hiện (LoD

(IDL) và Giới hạn phát hiện

 Giới hạn định lượng (LoQ

(IQL) và Giới hạn định lượng

(IQL) và Giới hạn định lượng

hạn phát hiện (LoD) và Giới hạn định lượng (LoQ)

(LoD): Giới hạn phát hiện của thiếthiện của phương pháp (MDL)

LoQ): Giới hạn định lượng của thiếtlượng của phương pháp (MQL)

lượng của phương pháp (MQL)

Giới hạn phát hiện (LoD) và

LoD = 3 x S/N LoQ = 3 LoD = 9 S/N(Dựa vào độ lệch chuẩn của nhiễu)

hạn phát hiện (LoD) và Giới hạn định lượng (LoQ)

LoD = 3 x S/N LoQ = 3 LoD = 9 S/N(Dựa vào độ lệch chuẩn của nhiễu)

Độ lệch chuẩn của

nhiễu SD

Y EPA 40 CFR Part 136 APPENDEX B, revision

1 Dự đoán MDL của chất phân

2 Chuẩn bị 2 mẫu thêm chuẩn

4 Nếu hiệu suất thu hồi đạt yêu

không đạt yêu cầu, quay trở

5 Chuẩn bị ít nhất 7 mẫu thêm

tích theo quy trình phân tích

6 Ghi nhận kết quả và tính toán

2 S/N có nằm trong khoảng yêu

3 Hiệu suất thu hồi có nằm trong

APPENDEX B, revision 1.11

phân tích chuẩn (Spike) có nồng độ bằng 5 lần giá trị

Tính toán giới hạn phát hiện của phương pháp (MDL)

quy trình phân tích và ghi nhận kết quả phân

yêu cầu, chuyển sang bước tiếp theo Nếu lại bước (1) và chọn MDL cao hơn.

thêm chuẩn có nồng độ như bước (2) và phân tích

toán MDL được yêu cầu không? 2,5 – 10?

trong khoảng yêu cầu không? 70 – 110?

Mẫu 1 0,23 110 Mẫu 2 0,21 100 Mẫu 3 0,24 114 Mẫu 4 0,19 90 Mẫu 5 0,18 86 Mẫu 6 0,22 105 Mẫu 7 0,17 81 Mẫu 8 0,16 76

Mẫu 9 0,23 110 AVE 0,20 96,9

Yếu tố ảnh hưởng (Robustness and Ruggedness)

 Xem xét độ nhạy của các

pháp đối với những thayphân tích mà không hoặctích

Yếu tố ảnh hưởng (Robustness and Ruggedness)

các thông số đặc trưng của phươngthay nhỏ của môi trường và điều kiệnhoặc ít ảnh hưởng đến kết quả phâncủa phương pháp trong quá trình sử

IUPAC Technical Report

Harmonized Guideline for

Methods, Pure Appl Chem