Hướng dẫn về các phương pháp hiển vi, mọi người đều có thể tiếp thu học tập 1 cách hiệu quả cũng như dễ áp dụng vào thực tế
Trang 1Kính Hiển Vi Điện Tử
Quét (SEM)
Nhóm: 1 - Lớp: 124954
Trang 2Kính hiển vi điện tử quét là gì?
Khái niệm về kính hiển vi điện từ quét (SEM):
Kính hiển vi điện tử quét (SEM) là một loại kính hiển vi điện tử có thể tạo ra ảnh với độ phâ
n giải cao của
bề mặt mẫu vật bằng cách sử dụng một chùm điện tử hẹp quét trên bề mặt mẫu
Kính hiển vi điện tử quét SEM là một kỹ thuật kiểmtra, phân tích không phá hủy
Trang 3Lịch sử hình thành và phát triển
Năm 1942 kính hiển viên điện tử quét đầu tiên được phát triển bởi Zworykin
Đến nay đã có nhiều thế hệ SEM tiên tiến được ra đời với những công nghệ vượt trội, hiệu năng cao,… và được áp dụng
vào nghiên cứu khoa học ở nhiều nước trên thế giới
Năm1948,W. Oatley ở Đại học Cambridge phát triển kính hiển vi điện tử quét trô hình này và côn
g bố trong luận án tiến sĩ của D. McMullan với chùm điện tử hẹp có độ phân giải đến 500 Angstro
m.
Từ những năm 1940-1950: Những máy SEM đầu tiên được giới thiệu tại trường đại học Công Nghệ Brno với tên thương
hiệu Tesla
Trang 4Cấu tạo của kính hiển vi điện tử quét
Các bộ phận chính.
Súng phóng điện tử (Nguồn phát điện tử)
Hệ thống các thấu kính từ
Bộ phận tín hiệu detector
Buồng chân không chứa mẫu
Thiết bị hiển thị
Các bộ phận khác: Nguồn cấp điện, hệ thống
chân không, hệ thống làm lạnh, bơm chống rung,hệ thống chống nhiễm từ trường và điện trường
Trang 5Súng phóng điện từ
Là nguồn phát ra chùm điện tử trong SEM
Hoạt động trong khoảng 0 đến 30 Kv, có khi
là 60 Kv tùy thuộc thiết bị
Điện tử phát ra từ súng phóng điện tử có hai kiểu phát xạ nhiệt điện tử
và phát xạ trường
Hệ thống các thấu kính
Gồm các hệ thống thấu kính hội tụ để hội tụ các chum điện tử bị phân kì thành
một điểm trên bề mặt chân không.
Hệ thống thấu kính gồm kính hội tụ 1,2 và vật kính.
Hệ thống chân không
Hệ thống nhận và tạo ảnh
Detector thứ cấp.
Detector điện tử tán xa ngược.
Trang 6Nguyên tắc hoạt động
SEM tạo ra hình ảnh bằng Electron thứ cấp phản xạ từ bề mặt mẫu do chum song
electron ban đầu đập vào.
Trong SEM, trùm eletron nhỏ đước quét ngang qua mẫu, đồng thời tín hiệu
sinh ra được thu nhận vầ hình ảnh sẽ được hiển thị lại bằng cách ánh xạ tín
hiệu với vị trí của song theo từng điểm một.
Tín hiệu được quan sát trên cùng vị trí của mẫu khi trùm electro đến.
Trang 7Các tính năng của SEM
Quan sát bề mặt mẫu rắn ở các độ
phóng đại khác nhau
Độ sâu trường quan sát lớn hơn rất nhiều so với kính hiển vi quang học, cho phép thu ảnh lập thể
Kết hợp với đầu thu phổ tán xạ năng lượng tia X (EDX) cho phép phân tích thành phần nguyên tố của vùng quan sát
Trang 8Ưu nhược điểm của SEM
H I H I H I H I H I H I H I H I H I
Ưu điểm
Phân tích mà không cần phá hủy mẫu vật, có thể hoạt động ở chân không thấp
Tại ảnh bằng phương phát quét nên ảnh có chiều sâu và chi tiết tốt hơn
Có thể chụp nhiều kiểu trên cùng một mẫu bằng việc thay đổi đầu thu
Mẫu quan sát phải đặt trong môi trường chân không và chỉ chụp được ảnh có mấu dẫn điện
Ảnh rù có chiều sâu nhưng chỉ quan sát đc bề mặt của mẫu vật
Ngăn suất phân giải kém hơn so với các kính hiển vi điện tử khác
Trang 9Ứng dụng của SEM
Kính hiển vi điện tử quét được ứng dụng trong nhiều lĩnh vực:
Kiểm tra chất bán dẫn
Kĩ thuật pháp y
Y học
Nghệ thuật
Ứng dụng của SEM trong khoa học vật liệu
Giúp nghiên cứu mà không cần phá hủy vật liệu
Cung cấp thông tin về hình ảnh cấu trúc và thành phần của vật liệu