Phân loại bộ nhớ bán dẫnRAM: Random Access Memory – bộ nhớ có cấu trúc mảng với các bit truy xuất độc lập.. • ROM: Read Only Memory – không thể Write ngẫu nhiên như RAM – hoạt động Wr
Trang 3Random Access
Non-Random Access
SRAM DRAM
Mask-Programmed Programmable (PROM) FIFO
Shift Register CAM LIFO
Trang 4Phân loại bộ nhớ bán dẫn
RAM: Random Access Memory
– bộ nhớ có cấu trúc mảng với các bit truy xuất độc lập
– có khả năng Read and Write ngẫu nhiên
– ram là bộ nhớ bay hơi
• ROM: Read Only Memory
– không thể Write ngẫu nhiên như RAM
– hoạt động Write đòi hỏi phải có điện áp cao hoặc được xóa bằng tia UV
–rom là bộ nhớ không bay hơi (data vẫn còn khi mất nguồn)
• Bộ nhớ bay hơi (Volatility Memory)
– mất data khi mất nguồn
• Static và Dynamic Memory
Trang 5Kiến trúc Memory : Decoders
Word 0 Word 1 Word 2
Word N 2 2 Word N 2 1
Storage cell
Word N 2 2 Word N 2 1
Storage cell
S 0
Input-Output ( M bits)
Decoder
Trang 6Kiến trúc mảng
Trang 7Read-Write Memories (RAM)
Cần refresh theo chu kỳ Nhỏ (1-3 transistors/cell) Chậm hơn
Cấu trúc đơn
Trang 8Cấu trúc SRAM 6trans
• Sử dụng 2 inverter để lưu data
• 2 trans MAL và MAR cho phép truy xuất đến data để read
Trang 9Hoạt động SRAM
– Hold
• WL=0: các trans truy xuất off
• Data được lưu giữ trong bộ chốt (2 inverter)
– Write
• WL=1: các trans truy xuất on
Data mới (dưới dạng điện áp) được đưa vào
• bit và \bit
• Data trong bộ chốt được ghi đè giá trị mới
– Read
• WL=1: các trans truy xuất on
• Bit và \bit được đọc bởi bộ cảm ứng (sense amplifier)
– Sense amplifier
• Là bộ khuếch đại vi sai
• So sánh sự khác nhau giữa bit và \bit
Bit>\bit : output = 1
Bit<\bit : output = 0
Trang 106-transistor CMOS SRAM Cell
Trang 114-transistor CMOS SRAM Cell
– Thay pMOS bằng điện trở có trở kháng cao (~1GΩ)
Trang 12
6-transistor CMOS SRAM Cell
– Write
VD: ghi bit 1
• WL=1
• Đưa bit data vào bit và \bit
• Ngõ vào của các cổng inverter thay đổi và
lưu giá trị mới
– Chọn kích thước cho các trans
• Từ mô hình trở kháng: để điện áp rơi hoàn toàn
trên Rp và Rn, thì Rp, Rn>RA
• Thường chọn
Trang 14
Multiport SRAM
– Cho phép đa truy cập tức thời vào cùng một cell, mỗi port gồm:
• 2 trans truy xuất
• 2 bit line
• 1 WL
• Một bộ giải mã địa chỉ
Trang 15Resistance-load SRAM Cell
Static power dissipation
Trang 16DRAM
– Dynamic RAM:
• Nhỏ hơn và rẻ hơn so với SRAM
• Chậm hơn SRAM
• DRAM đòi hỏi phải có các mạch ngoại vi khi hoạt động
– DRAM cell 1 transistor:
• 1 nFET cho phép truy xuất
• Điện dung lưu giữ giá trị (0 hoặc 1)
• WL: ngõ vào điều khiển
• Bitline: ngõ vào/ra data
Trang 17Hoạt động DRAM
– Data lưu trên RAM được lưu giữ trên điện dung Cs
• Gọi Vs là điện áp được nạp trên điện dung
Vs=0, Qs=0 : mức logic 0
Vs tăng, Qs>1 : mức logic 1
– Write:
• WL=VDD: trans truy xuất on
• data (dạng điện áp Vd) được đưa vào bitline
• WL=0: trans truy xuất off
• Data được lưu giữ trên Cs
Trang 18Chu kỳ refresh DRAM
– Data lưu trên RAM chỉ được duy trì trong thời gian ngắn
Resfresh:
– Data phải được refresh để duy trì data khi còn nguồn cung cấp
– Thực hiện read theo chu kỳ như sau:
• Khuếch đại data trên cell
• Ghi lại data trên cell
Tốc độ refresh:
th: thời gian giữ data trên cell
Trang 19Hoạt động DRAM
– Read
• WL=1
• Giá trị nạp trên Cs sẽ được chuyển qua Cbit
thay đổi giá trị của Vbit
• Cbit nạp cho đến khi
• Giá trị Vf thường nhỏ hơn Vs nên sẽ được khuếch đại trước khi đọc
Trang 21Giản đồ thời gian hoạt động DRAM
Trang 223-Transistor DRAM Cell
Trang 23M1
Trang 241-T DRAM Cell
M 1 word line
Diffused bit line
Polysilicon gate
Polysilicon plate
Trang 25Read-Only Memory (ROM)
Trang 28NOR-ROM Layout
Polysilicon Metal1 Diffusion
Cell (9.5 l x 7 l )
Trang 30NAND-ROM Layout
Polysilicon Diffusion
Cell (8 l x 7 l )
Trang 31EEPROM
WL
BL
V DD
Trang 32n 1 source n 1 drain
programming
Trang 33Các mạch ngoại vi
Sense Amplifiers
Trang 34Row Decoder
Dùng để chọn 2M complex logic gate
(N)AND Decoder
NOR Decoder
Trang 374-input pass-transistor column decoder
2-input NOR decoder
Trang 38Sense Amplifiers
Idea: Use Sense Amplifer
output input
s.a
small transition
Trang 39Differential Sense Amplifier
SE
Out
y