PHÁT XẠ ĐIỆN TỬ THỨ CẤP Hướng dẫn: PGS.TS Lê Văn Hiếu Thực Hiện: Nguyễn Văn Thọ... Phát xạ điện tử thứ cấp là gì?... CƠ SỞ LÝ THUYẾT • Hệ số phát xạ thứ cấp electron thứ cấp electron
Trang 1PHÁT XẠ ĐIỆN TỬ THỨ CẤP
Hướng dẫn: PGS.TS Lê Văn Hiếu
Thực Hiện: Nguyễn Văn Thọ
Trang 2Phát xạ điện tử thứ cấp là gì?
Trang 3CƠ SỞ LÝ THUYẾT
• Hệ số phát xạ thứ cấp
electron thứ cấp
electron sơ cấp
Characterization of the Dose Effect in Secondary Electron Emission
Prashanth Kumar
B.E, University of Madras, 2003
Trang 4Tóm tắt lý thuyết lye và dekker
• n(x;E0)dx là số hạt thứ cấp được tạo ra
với độ dày dx và ở độ sâu x so với bề
mặt
Trang 5Tóm tắt lý thuyết lye và dekker
• f(x) Là hàm phân bố của hạt thứ cấp dọc theo trục x và thoát ra bề mặt
Characterization of the Dose Effect in Secondary Electron Emission
Prashanth Kumar
B.E, University of Madras, 2003
Trang 6Tóm tắt lý thuyết lye và dekker
Độ mất mát năng lượng của hạt sơ cấp được tính bằng định luật Whiddington's: dE/dx = -Ep/R trong
đó A là hằng số đặt trưng cho vật liệu, R độ xuyên sâu
R được xác định thông qua
n nằm trong khoảng 1,3 – 1,6
Trang 7Tóm tắt lý thuyết lye và dekker
Characterization of the Dose Effect in Secondary Electron Emission
Prashanth Kumar
B.E, University of Madras, 2003
Với K là hệ số, r được xác định thông qua:
Sử dụng điều kiện
Ta có
Trang 8Tóm tắt lý thuyết Dionne
Tổng số hạt electron thứ cấp bằng (-dE/dx)/
Trong đó dE/dx là năng lượng bị mất mát, còn là năng
lượng mà một electron thoát ra
Độ mất mát năng lượng của hạt sơ cấp được tính
bằng định luật Whiddington's: dE/dx = -Ep/R trong
đó A là hằng số đặt trưng cho vật liệu, R độ xuyên
sâu
R được xác định thông qua
Trang 9Tóm tắt lý thuyết Dionne
Characterization of the Dose Effect in Secondary Electron Emission
Prashanth Kumar
B.E, University of Madras, 2003
Hệ số phát xạ thứ cấp được xác định bằng công thức:
Trong đó
B xắc suất để hạt thoát ra khỏi bề mặt
Năng lượng excitation của điện tử thứ cấp
Hệ số hấp thụ của điện tử thứ cấp
A Hệ số hấp thụ của điện tử sơ cấp
d Độ xuyên sâu cực đại