Sai số gá đặt của một chi tiết trong quá trình gia công cơ đƣợc xác định bằng công thức sau: gđ kc đg c
Trong đó: c- sai số chuẩn kc- sai số kẹp chặt đg- sai số đồ gá 4.4.1. Sai số kẹp chặt
Sai số kẹp chặt là lượng chuyển vị của chuẩn gốc chiếu trên phương kích thước thực hiện do lực kẹp thay đổi gây ra:
= (ymax - ymin). cosα
Trong đó: - góc giữa phương kích thước thực hiện và phương dịch chuyển y của chuẩn gốc.
ymax, ymin- lƣợng chuyển vị lớn nhất và nhỏ nhất của chuẩn gốc khi lực kẹp thay đổi.
Sự dịch chuyển của chuẩn gốc là do tác dụng của lực kẹp làm biến dạng bề mặt chi tiết dùng để định vị với những thành phần định vị của đồ gá (chốt tỳ hay phiến tỳ phẳng).
60
Hình 4-19. Sai số do lực kẹp gây ra
Bằng thực nghiệm, giáo sƣ A.P.Xôcôlôpxki đã đƣa ra công thức xác định biến dạng ở chỗ tiếp xúc giữa mặt chi tiết với vấu tỳ của đồ gá:
y = C.qn
Trong đó: C- hệ số phụ thuộc vào vật liệu và tình trạng bề mặt tiếp xúc.
q- áp lực riêng trên bề mặt tiếp xúc (N/mm2) n- chỉ số (n<1)
Sự dịch chuyển của chuẩn gốc có thể do lực kẹp thay đổi, do biến dạng bề mặt tiếp xúc của phôi và đồ gá. Ở hình trên khi lực kẹp thay đổi từ Wmin đến Wmax thì phôi cũng dịch chuyển từ ymin đến ymax và do đó kích thước gia công cũng thay đổi từ Hmin đến Hmax.
4.4.2. Sai số của đồ gá
Sai số của đồ gá sinh ra do chế tạo đồ gá không chính xác, do độ mòn của đồ gá và do gá đặt đồ gá trên máy không chính xác. Sai số của đồ gá tính theo công thức sau:
lđ m
đg ct
Trong đó: ct- sai số do chế tạo đồ gá
m- sai số do mòn đồ gá
lđ- sai số do gá đặt đồ gá trên máy
Khi chế tạo đồ gá người ta thường lấy độ chính xác của nó cao hơn một cấp so với độ chính xác kích thước của chi tiết gia công trên đồ gá đó.
Độ mòn đồ định vị của đồ gá phụ thuộc vào vật liệu và trọng lƣợng phôi, vào tình trạng bề mặt tiếp xúc giữa phôi với đồ gá và vào điều kiện gá đặt phôi trên đồ gá.
4.4.3. Sai số chuẩn
Chuẩn thiết kế và chuẩn công nghệ có thể trùng nhau hoặc không. Nếu trùng nhau tức là thể hiện tốt quan điểm công nghệ của công tác thiết kế. Nếu khi chế tạo thực hiện gia công d dàng các kích thước đã cho khi thiết kế thì bản thiết kế đó có tính công nghệ cao.
Khi thiết kế thì các kích thước là vô hướng, có nghĩa là kích thước giữa mặt A và mặt B được tạo thành mà không cần quan tâm kích thước đó là từ mặt A đến mặt B
61 hay từ mặt B đến mặt A.
Về mặt công nghệ thì các kích thước ghi trong bản vẽ chế tạo không còn là kích thước tĩnh và vô hướng nữa.
Hình 4-20. Sự hình thành kích thước công nghệ
Ví dụ, xét kích thước 100±0,1 giữa hai bề mặt A và B của chi tiết. Do yêu cầu làm việc sau này của chi tiết, người thiết kế cho kích thước 100 mm với sai lệch cho phép ±0,1 mm. Còn trên quan điểm công nghệ thì chú ý tới sự hình thành kích thước với quá trình công nghệ như thế nào, sự hình thành kích thước ra sao để tránh bớt phế phẩm. Nếu mặt A được gia công ở nguyên công sát trước, mặt B đang được gia công thì kích thước 100 mm có gốc ở A và hướng về mặt B.
Kích thước công nghệ có hướng rõ rệt, hướng đó đi từ gốc kích thước đến mặt gia công. Khái niệm về gốc kích thước chỉ dùng trong phạm vi công nghệ; nó có thể trùng hay không trùng với chuẩn thiết kế. Nếu gốc kích thước không trùng với chuẩn định vị thì sẽ sinh ra sai số chọn chuẩn, ảnh hưởng đến độ chính xác của kích thước gia công.
Ví dụ ở hình 4.21a khi gia công mặt N thì gốc kích thước và chuẩn định vị đều nằm trên mặt K, nên khi gia công mặt N để hình thành kích thước A thì sai số chuẩn của kích thước A là cA= 0.
Ở hình 4.21b nếu gốc kích thước khi gia công mặt N là mặt M và chuẩn định vị là mặt K thì khi gia công mặt N, kích thước B chịu ảnh hưởng của sự biến động của gốc kích thước là H (chuẩn định vị không trùng với gốc kích thước). Khi đó sai số chuẩn của kích thước B là cB = H.
Định nghĩa: Sai số chuẩn phát sinh khi chuẩn định vị không trùng với gốc kích thước và có trị số bằng lượng biến động của gốc kích thước chiếu lên phương kích thước thực hiện.
Hình 4-21. Sự hình thành sai số chuẩn