Iec 61347 2 8 2006 amd1 2006 cor1 2012

August 2012 IEC 61347 2 8 (First edition – 2000 / Amendment 1 2006) Lamp controlgear – Part 2 8 Particular requirements for ballasts for fluorescent lamps C O R R I G E N D U M 1 CONTENTS Replace the[.]

August 2012

IEC 61347-2-8 (First edition – 2000 / Amendment 1:2006)

Lamp controlgear – Part 2-8: Particular requirements for ballasts for fluorescent lamps

C O R R I G E N D U M 1

CONTENTS

Replace the existing title of Figure I.1 by the following:

Figure I.1 – Test circuit for magnetic controlgear, for lamps with integral starting devices

Figure I.1 – Test circuit for ballasts, for lamps with internal starting devices

Replace existing Figure I.1 by the following:

Key

1 Ammeter for measuring the d.c current

2 Electrostatic voltmeter with a self-capacitance not exceeding 30 pF for measuring the pulse voltage

3 Protection device for power supply

4 Supply for switch control: optional

C1 = 0,66 μF

C2 = 5 000 pF

C3 = 50 pF

D1 = Diode ZD22

D2 = Diode IN4004

D3 = Diode (6 pieces) BYV96E

P Test sample

R1 Adjustable resistor (approximately 100 Ω)

R2 Adjustable resistor: R2 ≥ Ballast x 20

S Vacuum switch

Va Varistors (for selection see Annex I)

Figure I.1 – Test circuit for magnetic controlgear, for lamps with

integral starting devices

Aỏt 2012

CEI 61347-2-8 (Première édition – 2000 / Amendement 1:2006)

Appareillages de lampes – Part 2-8: Prescriptions particulières pour les ballasts pour lampes fluorescentes

C O R R I G E N D U M 1

SOMMAIRE

Remplacer le titre existant de la Figure I.1 par le suivant:

Figure I.1 – Circuit d'essai pour appareillages magnétiques destinés aux lampes comportant des dispositifs d'amorçage incorporés

Figure I.1 – Circuit d'essai pour ballasts destinés aux lampes comportant des dispositifs d'amorçage incorporés

Remplacer la Figure I.1 existante par la suivante:

Légende

1 Ampèremètre pour mesurer le courant continu

2 Voltmètre électrostatique ayant une capacité interne ne dépassant pas 30 pF pour mesurer les impulsions

de tension

3 Système de protection pour l'alimentation de puissance

4 Alimentation pour commander l'interrupteur (option)

C1 = 0,66 μF

C2 = 5 000 pF

C3 = 50 pF

D1 = Diode ZD22

D2 = Diode IN4004

D3 = Diode (6 pièces) BYV96E

P Echantillon en essai

R1 Résistance variable (environ 100 Ω)

R2 Résistance variable: R2 ≥ Ballast x 20

S Interrupteur de décharge

Va Varistances (pour le choix voir l'annexe I)

Figure I.1 – Circuit d'essai pour appareillages magnétiques destinés aux lampes

comportant des dispositifs d'amorçage incorporés