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Iec 60759 1983 amd1 1991 scan

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THÔNG TIN TÀI LIỆU

Thông tin cơ bản

Tiêu đề Methods of standardized tests for semiconductor X-ray energy spectrometers
Trường học International Electrotechnical Commission
Chuyên ngành Nuclear Instrumentation
Thể loại Standard
Năm xuất bản 1991
Thành phố Geneva
Định dạng
Số trang 6
Dung lượng 218,72 KB

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Nội dung

IEC • NORME INTERNATIONALE INTERNATIONAL STAN DARD CEI IEC 60759 1983 AMENDEMENT 1 AMENDMENT 1 1991 11 Amendement 1 Méthodes d''''essais normalisés des spectromètres d''''énergie X à semicteur Amendment 1 S[.]

Trang 1

IEC •

INTERNATIONALE

INTERNATIONAL

IEC 60759

1983 AMENDEMENT 1

AMENDMENT 1

1991-11

Amendement 1

Méthodes d'essais normalisés des spectromètres

d'énergie X à semicteur

Amendment 1

Standard test procedures for semiconductor

X-ray energy spectrometers

© IEC 1991 Droits de reproduction réservés — Copyright - all rights reserved

Commission Electrotechnique Internationale

International Electrotechnical Commission

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Pour prix, voir catalogue en vigueur

B

Trang 2

45(BC)196 45(BC)191

AVANT- PROPOS

Le présent amendement a été établi par le Comité d'Etudes n° 45 de la CEI:

Instrumen-tation nucléaire.

Le texte de cet amendement est issu des documents suivants:

Le rapport de vote indiqué dans le tableau ci-dessus donne toute information sur le vote

ayant abouti à l'approbation de cet amendement.

Page 54

7.4.1 Sources de rayonnement X

Remplacer au dernier alinéa de ce paragraphe, page 56:

« et au paragraphe 4.1 de la Publication 340 de la CEI.» par:

« et au paragraphe 6.3 de la Publication 973 de la CEI.»

Trang 3

Two Months' Procedure Report on Voting

45(CO)196 45(CO)191

FOREWORD This amendment has been prepared by IEC Technical Committee No 45: Nuclear

instrumentation.

The text of this amendment is based on the following documents:

Full information on the voting for the approval of this amendment can be found in the

Voting Report indicated in the above table.

Page 55

7.4.1 X-ray sources

Replace, in the last paragraph of this subclause, on page 57:

" and Sub-clause 4.1 of IEC Publication 340." by:

" and Sub-clause 6.3 of IEC Publication 973."

Trang 4

Verre normalisé (tableau I)/Standard glass (Table I)

Diameter Epaisseur Thickness 3 mm

Rondelles d'épaisseur en plastique

Plastic spacers

Rondelles d'épaisseur en plastique

Plastic spacers

Face avant du verre à la

fenêtre de la source = 8 mm

Front surface of glass to

window of source = 8 mm

Face avant du verre à la

fenêtre du détecteur = 30 mm

Front surface of glass to

window of detector = 30 mm

Rondelles d'épaisseur en plastique

Plastic spacers

Face avant du verre Front su rface of glass

Fenêtre de la source Window of source Rondelles d'épaisseur en plastique Plastic spacers

Fenêtre du détecteur Window of detector

CEI-!EC 763/91

Page 94

Figure 15a

Remplacer la figure existante par la nouvelle figure suivante:

Replace the existing figure by the following new figure:

Fig 15a - Appareil pour la mesure des épaisseurs de fenêtre

Apparatus for window thickness measurements

Trang 6

ICS 17.240

Typeset and printed by the IEC Central Office GENEVA, SWITZERLAND

Ngày đăng: 17/04/2023, 10:38

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