Bài thuyết trình Nghiên cứu chế tạo màng ITO bằng phương pháp phún xạ Magnetron trình bày tổng quan màng ITO, phương pháp phún xạ magnetron; thực nghiệm các bước tạo màng, các phương pháp xác định tính chất của màng; kết quả khoảng cách bia đế, công suất phún xạ.
Trang 1GVHD: TS Lê Trấn HVTH: Nguyễn Thanh Tú
Nghiên cứu chế tạo màng ITO bằng phương pháp phún xạ
Magnetron
Trang 2Page 2
Nội dung
Các bước tạo màng Các phương pháp xác định tính chất của màng
Màng ITO Phương pháp phún xạ magnetron
Độ dày màng Khí oxi
Xử lý nhiệt sau khi phủ
Trang 3Page 3
Trang 4ITO: hỗn hợp của Indium oxide (In2O3 ) và Tin Oxide (SnO2),
Cơ chế dẫn điện: các electron dẫn sinh ra do có sự pha tạp donor hoặc do sự thiếu oxi trong cấu trúc màng
Có độ truyền qua cao ở vùng khả kiến và điện trở suất thấp Dùng làm điện cực trong suốt trong các loại màn hình, pin
mặt trời màng mỏng, OLED…
Màng ITO
Trang 5Page 5
Ưu điểm của phương pháp phún xạ Magnetron
Nhiệt độ đế thấp, có thể xuống đến nhiệt độ phòng
Phương pháp có chi phí không cao
Có khả năng phủ màng trên diện tích rộng
Trang 6Page 6
Phún xạ Magetron
Trang 7Page 7
Trang 8Một số đặc điểm của quá trình tạo màng
Áp suất nền trước khi tạo màng 4x10-6 torr
Áp suất khí làm việc điển hình khoảng 3 x
10-3 torr
Công suất phún xạ, áp suất làm việc,
nhiệt độ đế, thời gian phún xạ thay đổi tùy
theo yêu cầu
Hệ tạo màng mỏng
Univex 450
Trang 9Page 9
Các phép đo xác định tính chất của màng
Phương pháp 4 mũi dò thẳng: đo điện trở mặt của màng
Phương pháp van der Pauw với máy HMS 3000: xác định nồng độ và độ linh động Hall của hạt tải
Phương pháp đo độ dày:bằng máy Stylus Dektak 6M
Phép đo nhiễu xạ tia X: xác định cấu trúc tinh thể trên máy Siemens D5
Phổ truyền qua trong vùng phổ 190 – 1100 nm được đo bằng máy UV-Vis Jasco V-530
Phổ truyền qua và phản xạ trong vùng hồng ngoại bước
sóng 0.65-1.8µm được đo bằng máy FTIR Bruker Equinox
55
Trang 10Page 10
Trang 14Page 14
3 Công suất phún xạ
Cực tiểu của điện trở
suất ở công suất
Trang 16Page 16
4 Nhiệt độ đế
Khi tăng nhiệt độ đế
điện trở suất giảm
Trang 17Page 17
4 Nhiệt độ đế
Trang 18Page 18
4 Nhiệt độ đế
t > 150 0 C chuyển pha từ trạng thái vô định hình sang tinh thể
Trang 21Page 21
5 Độ dày màng
d< 15 nm màng có cấu trúc vô định hình d~ 30 nm thì xuất hiện đỉnh (400) và đỉnh này luôn vượt trội các đỉnh khác
Trang 22Page 22
5 Độ dày màng
d từ 300 - 600 nm là phù hợp vì tốt ở cả tính chất quang và điện
Trang 25Page 25
7 Xử lý nhiệt sau khi phủ
Nhiệt độ ủ nhiệt phải lớn hơn 250 0 C nhỏ hơn 350 0 c để có tính chất điện tốt
Trang 27Page 27
Kết luận
Áp suất Ar phún xạ 3 x 10 -3 torr, Công suất 50 W
Khoảng cách bia đế là 5 cm
Và độ dày trên 300 nm đến 600nm Nhiệt độ tinh thể hóa của màng ITO trên 150 0 c
Áp suất riêng phần oxi lớn hơn 10-5 torr luôn làm giảm độ dẫn điện hay tăng điện trở suất
Độ truyền qua quang học của màng ITO trên 80% trong vùng 0.4 - 0.7 µm
Độ phản xạ trên 90% ở bước sóng lớn hơn 3
µm
Trang 28Page 28
Tài liệu tham khảo
1 Trần Cao Vinh (2008), Tạo màng dẫn điện trong suốt bằng phương pháp phún xạ
Magnetron, Luận án tiến sĩ vật lý quang học,
Trường ĐH KHTN-ĐHQG Tp.HCM
2 Cao Thị Mỹ Dung (2002), Tổng hợp màng trong suốt dẫn điện ITO trên đế thủy tinh
Trang 29Page 29
Thanks for your attention !