Các nguyên lý tự kiểm tra ứng dụng trong việc đo lường, kiểm nghiệm các mạch điện tử số và vi xử lýLưu Quang Trung, Nguyễn Huỳnh Sơn, ĐT3 – K53 Seminar cơ sở đo lường điện tử 01/12/2011
Trang 1Các nguyên lý tự kiểm tra ứng dụng trong việc đo lường, kiểm nghiệm các mạch điện tử số và vi xử lý
Lưu Quang Trung, Nguyễn Huỳnh Sơn, ĐT3 – K53
Seminar cơ sở đo lường điện tử (01/12/2011)
Trình bày: Lưu Quang Trung
Trang 4Tổng quan > Lý do chọn đề tài
1
• Do sự phát triển ngày 1 nhanh chóng của
mạch tích hợp mật độ cao, dẫn tới việc đo
thử và kiểm tra 1 mạch IC hoặc 1 mảng
mạch trở nên vô cùng phức tạp và tốn kém
• Càng ngày càng cần thiết bị có dải rộng
hơn, có nhiều khả năng để lựa chọn khi sản
xuất, bảo hành, sửa chữa
• Giải pháp: Cung cấp cho máy chế độ tự kiểm tra (self-testing), nhờ đó có thể kiểm tra 1 mảng mạch hoặc cả 1 hệ thống mà không cần sử dụng bất cứ
Trang 6Giới thiệu về các phương pháp tự kiểm tra
2
1 Phương pháp thiết kế theo mức độ nhạy – LSSD (Level-Sensitive Design)
2
Phương pháp dùng bộ giám sát thiết bị
sử dụng khối logic – BILBO (Built-in Loigic Block Observer)
3 Phương pháp MICROBIT
Trang 9Phương pháp LSSD > Sơ đồ khối
C: Xung nhịp của hệ thống A: Clock dịch.
• Latch 1 (L1) , Latch 2 (L2): các phần tử nhớ được cung cấp trong cấu trúc sản phẩm
• Latch 1: Thực hiện chức năng cơ bản của sản phẩm nhưng nó cũng được sử dụng trong quá trình kiểm tra.
Trang 10Phương pháp LSSD > Hoạt động
3
3.3 Hoạt động
•Hai Latch ở trên được tổ hợp thành 1
thanh ghi dịch đơn để đầu ra của Latch
2 sẽ được nối vào đầu vào I của Latch 1
của thanh ghi dịch đơn kế tiếp
Latch 1
Latch 2
I’
Scan Data I Sys Data D Sys Clock C Shift Clock A
Trang 11Phương pháp LSSD > Ứng dụng
3
3.4 Ứng dụng
•Kiểm tra các hệ thống sử dụng IC (Integrated Circuit)
•Kiểm tra các hệ thống sử dụng SoC (System-on-Chip)
•Kiểm tra các mảng mạch
Trang 13Phương pháp BILBO > Định nghĩa
4.1 Định nghĩa:
•BILBO = Built- In Logic Block Observer, đây là phương pháp dùng Bộ giám sát thiết bị sử dụng khối logic (mạch số)
4
Trang 14Phương pháp BILBO > Sơ đồ khối
4.2 Sơ đồ khối
4
Phát xung nhịp
Locgic điều khiển Bộ phát mẫu giả ngẫu nhiên
Mạch thiết bị được kiểm tra
Thanh ghi nhận dạng
Xung nhịp
Xung reset, khởi động, xóa
Trang 15Phương pháp BILBO > Hoạt động
4.3 Hoạt động
4
• Sau một số xung clock đã định trước nhận được, mạch điều chọn thời gian thử sẽ phát ra 1 tín hiệu kết thúc 1 vòng kiểm tra, đáp lại tín hiệu này, khối phát xung nhịp sẽ chấm dứt việc đưa xung đồng bộ tới mạch thiết bị được kiểm tra, do đó số liệu sẽ được đưa ra bộ giải mã để tới màn hình trạng thái của thiết bị trong thời gian kiểm tra
Trang 18Phương pháp MICROBIT > Định nghĩa
5.1 Định nghĩa
•Là phương pháp được phát triển đặc biệt dành cho việc kiểm tra các hệ thống
vi xử lý và những máy tính hoàn chỉnh, nhưng nó cũng có thể ứng dụng để kiểm tra những mảng mạch in
5
Trang 19Phương pháp MICROBIT > Sơ đồ khối
RAM ROM Giao diện đầu
vào
Giao diện đầu
ra
Chuyển mạch khởi động
µP BUSES
Trang 20Phương pháp MICROBIT > Hoạt động
µP BUSES
Trang 21Phương pháp MICROBIT > Đặc điểm
Trang 22Thanks for your attention!