1. Trang chủ
  2. » Kỹ Thuật - Công Nghệ

ĐIỆN tử VIỄN THÔNG principles of self testing khotailieu

22 28 0

Đang tải... (xem toàn văn)

Tài liệu hạn chế xem trước, để xem đầy đủ mời bạn chọn Tải xuống

THÔNG TIN TÀI LIỆU

Thông tin cơ bản

Định dạng
Số trang 22
Dung lượng 1,05 MB

Các công cụ chuyển đổi và chỉnh sửa cho tài liệu này

Nội dung

Các nguyên lý tự kiểm tra ứng dụng trong việc đo lường, kiểm nghiệm các mạch điện tử số và vi xử lýLưu Quang Trung, Nguyễn Huỳnh Sơn, ĐT3 – K53 Seminar cơ sở đo lường điện tử 01/12/2011

Trang 1

Các nguyên lý tự kiểm tra ứng dụng trong việc đo lường, kiểm nghiệm các mạch điện tử số và vi xử lý

Lưu Quang Trung, Nguyễn Huỳnh Sơn, ĐT3 – K53

Seminar cơ sở đo lường điện tử (01/12/2011)

Trình bày: Lưu Quang Trung

Trang 4

Tổng quan > Lý do chọn đề tài

1

• Do sự phát triển ngày 1 nhanh chóng của

mạch tích hợp mật độ cao, dẫn tới việc đo

thử và kiểm tra 1 mạch IC hoặc 1 mảng

mạch trở nên vô cùng phức tạp và tốn kém

• Càng ngày càng cần thiết bị có dải rộng

hơn, có nhiều khả năng để lựa chọn khi sản

xuất, bảo hành, sửa chữa

• Giải pháp: Cung cấp cho máy chế độ tự kiểm tra (self-testing), nhờ đó có thể kiểm tra 1 mảng mạch hoặc cả 1 hệ thống mà không cần sử dụng bất cứ

Trang 6

Giới thiệu về các phương pháp tự kiểm tra

2

1 Phương pháp thiết kế theo mức độ nhạy – LSSD (Level-Sensitive Design)

2

Phương pháp dùng bộ giám sát thiết bị

sử dụng khối logic – BILBO (Built-in Loigic Block Observer)

3 Phương pháp MICROBIT

Trang 9

Phương pháp LSSD > Sơ đồ khối

C: Xung nhịp của hệ thống A: Clock dịch.

• Latch 1 (L1) , Latch 2 (L2): các phần tử nhớ được cung cấp trong cấu trúc sản phẩm

• Latch 1: Thực hiện chức năng cơ bản của sản phẩm nhưng nó cũng được sử dụng trong quá trình kiểm tra.

Trang 10

Phương pháp LSSD > Hoạt động

3

3.3 Hoạt động

•Hai Latch ở trên được tổ hợp thành 1

thanh ghi dịch đơn để đầu ra của Latch

2 sẽ được nối vào đầu vào I của Latch 1

của thanh ghi dịch đơn kế tiếp

Latch 1

Latch 2

I’

Scan Data I Sys Data D Sys Clock C Shift Clock A

Trang 11

Phương pháp LSSD > Ứng dụng

3

3.4 Ứng dụng

•Kiểm tra các hệ thống sử dụng IC (Integrated Circuit)

•Kiểm tra các hệ thống sử dụng SoC (System-on-Chip)

•Kiểm tra các mảng mạch

Trang 13

Phương pháp BILBO > Định nghĩa

4.1 Định nghĩa:

•BILBO = Built- In Logic Block Observer, đây là phương pháp dùng Bộ giám sát thiết bị sử dụng khối logic (mạch số)

4

Trang 14

Phương pháp BILBO > Sơ đồ khối

4.2 Sơ đồ khối

4

Phát xung nhịp

Locgic điều khiển Bộ phát mẫu giả ngẫu nhiên

Mạch thiết bị được kiểm tra

Thanh ghi nhận dạng

Xung nhịp

Xung reset, khởi động, xóa

Trang 15

Phương pháp BILBO > Hoạt động

4.3 Hoạt động

4

• Sau một số xung clock đã định trước nhận được, mạch điều chọn thời gian thử sẽ phát ra 1 tín hiệu kết thúc 1 vòng kiểm tra, đáp lại tín hiệu này, khối phát xung nhịp sẽ chấm dứt việc đưa xung đồng bộ tới mạch thiết bị được kiểm tra, do đó số liệu sẽ được đưa ra bộ giải mã để tới màn hình trạng thái của thiết bị trong thời gian kiểm tra

Trang 18

Phương pháp MICROBIT > Định nghĩa

5.1 Định nghĩa

•Là phương pháp được phát triển đặc biệt dành cho việc kiểm tra các hệ thống

vi xử lý và những máy tính hoàn chỉnh, nhưng nó cũng có thể ứng dụng để kiểm tra những mảng mạch in

5

Trang 19

Phương pháp MICROBIT > Sơ đồ khối

RAM ROM Giao diện đầu

vào

Giao diện đầu

ra

Chuyển mạch khởi động

µP BUSES

Trang 20

Phương pháp MICROBIT > Hoạt động

µP BUSES

Trang 21

Phương pháp MICROBIT > Đặc điểm

Trang 22

Thanks for your attention!

Ngày đăng: 12/11/2019, 13:51

🧩 Sản phẩm bạn có thể quan tâm

w