1. Trang chủ
  2. » Luận Văn - Báo Cáo

Xây dựng quy trình phân tích hàm lượng phóng xạ U, Th, K trong mẫu địa chất và môi trường

23 563 0

Đang tải... (xem toàn văn)

Tài liệu hạn chế xem trước, để xem đầy đủ mời bạn chọn Tải xuống

THÔNG TIN TÀI LIỆU

Thông tin cơ bản

Định dạng
Số trang 23
Dung lượng 9,22 MB

Các công cụ chuyển đổi và chỉnh sửa cho tài liệu này

Nội dung

T ỷ số các diện tích này được tính toán... Hiệu suất ghi... thời gian gi ờHỉnh 6.

Trang 1

ĐẠI HỌ C QƯ Ó C GIA HÀ NỘI

Trang 2

M ục Lục

M ở đ ầ u 4

Chuong I: Hệ phổ kế gamma hoạt độ nhỏ 5

1.1 Det ect ơ bức xạ g a m m a 5

1.2 Các n g u ồ n tạo ra p h ô n g 6

1.3 Thiết bị G i ả m p h ô n g 8

1.4 Hệ phổ kế g a m m a hoa t độ n h ỏ 8

Chưoìig II: Xây dựng quy trình phân tích hàm lượng Uran, Thori, Kali : ’ 7 „ 1 1 II 1 Một số p h ư ơ n g p h á p xác định h àm lượng u 238, T h 232, K 40 tro ng m ẫ u 11 11.2 Khảo sát hiệu suất ghi tuyệt đối của hệ p h ổ k ế 13

11.3 Khảo sát s ự tích luỹ của R n 222 và con cháu củ a n ó 1 7 Kết l u ậ n 23

Tài liệu tham khảo 24

3

Trang 3

Mở đầu

Ur ani um , tho riu m, kaliu m là các đồ ng vị p h ó n g x ạ có thời gi an s ổ n g dài;

c hú ng có m ặt k h ắ p nơi trên trái đất T u ỳ vào cấu tạo địa chất, vị trí đị a lý, khí

h ậ u , nhìn c h u n g h à m lư ợ n g của các đ ồ n g vị này k h á n h ỏ , nh ất là đối với các mẫu môi trường D o vậy việc xác định hàm lư ợn g của c h ú n g t r o n g các m â u cân nghiên cứu t h ư ờ n g k h ó k h ăn và k h ô n g phải lúc n ào c ũ n g th ực hi ện đ ư ợ c với độ chính xác m o n g m u ốn Ngo ài ra, đổi với các m ẫ u địa chất, m ộ t đòi hỏi thực tê là

kh ôn g n h ữ n g cần xác định h à m lượng các n g uy ên tố này t ron g các m ẫ u cân nghiên cứu với độ ch ín h xác cần thiết mà còn phải đ ả m bảo đ ư ợ c cả vê m ặt thời gian (cần xác định nhanh) Đe xác định h àm lư ợ n g các đ ồ n g vị p h ó n g xạ u , Th,

K trong các m ẫu k h ả o sát, có thể thực hiện b ằn g nhiều p h ư ơ n g p h á p k há c nhau;

ch ăn g hạn n h ư p h ư ơ n g p h á p khối phổ gia t ố c , - T r o n g đề tài n à y c h ú n g tôi quan tâm tới việc xác định h à m lượng các đ ồ n g vị trên trực tiếp t h ô n g q u a việc xác định hoạt độ p h ó n g xạ củ a c h ú n g bằn g p h ư ơ n g ph áp phổ bứ c xạ g a m m a C ó hai loại ph ổ kế đ ư ợ c sử dụng: Đó là hệ phổ kế g a m m a n h ấ p n h á y và hệ p h ổ kế

g a m m a bán dẫn Hệ phô kê g a m m a nh ấp nháy có ưu điểm là hiệu suất ghi lớn,

k h ô n g cần có nitơ lỏng đi kèm, thuận tiện trong đo đạc, vận ch u yể n N h ư ợ c điể m của hệ phô kê này là độ p hân giải xấu và p h ô n g khá cao Do v ậy hệ p h ổ kế

g a m m a nh ấp nháy th ư ờ n g chỉ đư ợc d ù n g tro ng các phép đo cần độ chí nh xác

k h ô n g cao, t h ư ờ n g chi sử d ụ n g để xác định hoạt độ các đ ồ n g vị p h ó n g xạ tro ng các mẫu địa chất Đẻ có thể xác định hàm lượng các m ẫ u môi t r ư ờ n g với độ chính xác cao, cân plìải sử d ụ n g hộ phô kế g a m m a bán dẫn (với d e te ct o r

g e m a n i u m siêu tinh khiết ( H P G e) )

T r o n g đô tài này, c h ú n g tôi kh ảo sát m ộ t số yếu tổ cần thiết c ủ a m ộ t hệ đo

u am m a hoại độ n hỏ phục vụ việc xác định hàm lư ợn g các đ ồ n g vị p h ó n g xạ (U,

Th, K) có trong các m ẫ u địa chất và môi t rư ờ ng và đề suất qui trình xác định hàm lượng của chủng

4

Trang 4

350.000 cặp điện tử- lồ trổng; còn với bản nh ấp nh áy N a i , chỉ tạo ra 4 0 00 q u a n g điện tử.

Phô bức xạ g a m m a của cletectơ bán dan đ ư ợc đặc tr u n g bởi 3 thàn h p hần chính sau:

- Phân giải n ă n g lư ợ n g cu a detectơ

- Hiệu suât ghi của detecto'

- Tỷ sô đỉnh/ nền C o m p t o n

Tỷ sỗ đin h/ nền C o m p t o n (hình l , b ả n g l ) là đặc t r ư n g rất q u a n t rọ n g của detecto bức xạ g a m m a ; nó đư ợc xác định bởi tỷ sổ g i ữ a độ cao củ a đỉnh hấp thụ toàn ph ần 1332 k eV củ a đ ồ n g vị C o 60 đặt cách d et ec to 2 5 c m chia cho độ cao trung bì nh củ a nền C o m p t o n liên tục tro ng k h o ả n g từ 1040 k cV đến

!0 9 6 kc V Tỷ số này phụ thuộc vào kích th ước và b àn chất củ a detccto, nó có giá trị từ 20- 90

5

Trang 5

1.2 Các nguồn tạo ra phông.

Các yêu tô tạo nên p h ô n g bao gô m 3 nguy ên nh ân ch ín h sau:

- Hoạt chât p h ó n g xạ chứ a trong vật liệu làm detecto

- I loạt cliât p h ó n g xạ c hử a tro ng vật liệu x u n g q ua nh detecto

- Tia vù trụ

Tia vụ trụ tại đ ộ cao b a n g mặt nư ớc biển có thể chia ra làm hai th à n h phàn:

T h á n h phần c ứ n g ( ch i ếm 7 3 % ) và thành phần m ề m ( c h i ế m 27 % ) T h à n h phần círne, bao g ồ m các hạt m u o n và nucleon M u o n có khả n ă n g đ â m xu y ê n rất lớn;

để loại trừ thàn h ph ần n ày cần có hệ trùng ph ù n g T h à n h p h ầ n m ề m tia vũ trụ

6

Trang 6

gồm có các hạt electron, pos ition, g a m m a T h à n h ph ần này có thể loại bỏ bừi một tấm chì d à y c ỡ lOcm.

C ư ờ n g độ tia vũ trụ thay đổi theo thởi gian và p h ụ th uộ c v à o rât nhiêu yêu tô;

do vậy trong tr ư ờ n g hợp đo hoạt độ nh ỏ (thời gian đo lâu) cầ n hết sức chú ý tới thành phẩn này

Các chất p h ó n g xạ có tr on g vật liệu làm detecto c ũ n g t h a m gi a tạo nên p h ô n g phóng xạ Với tinh thổ Nal(TI), p h ô n g p h ó n g xạ tạo ra do s ự p h ó n g xạ củ a Th, Ư

và đặc biệt là của K 4I) D o đ ư ợc chế tạo bởi vật liệu có độ tinh khi ết rất cao,

dctccto I IPGe có p h ô n g p h ó n g xạ gây bởi vật liệu làm de te ct o rất thấp B ả n g 2 cho biết hoạt độ p h ó n g xạ có t ron g m ộ t sổ vật liệu

Báng 2 ' l o ạ t độ p h ó n g xạ có trong một số loại vật liệu ( m B q / g )

Bức xạ từ các vật liệu x u n g quanh hệ ph ổ kế do các vậ t liệu này c h ử a các chất

p h ó n g xạ thuộc các d ãy u 238, T h 232, Ư 235 tồn tại từ khi hì nh th à n h trái đất H à m lirợng u 2-'8 tron g đất đá cỡ 1 pp m; của T h 232 cỡ 10 p p m và c ủ a K 40 cỡ 0,1 - 1 %

B áng 3 du a ra hoạt độ p h ó n g xạ t run g bình củ a mộ t số vật liệu xây d ự n g

7

Trang 7

B ản g 3 H o ạt đ ộ tru ng bình củ a m ộ t số vật liệu xây d ự n g ( B q /k g )

1.3 Thiết bị giảm phông

Phông p h ó n g xạ do các thành phần bên ngoài g â y nên có thể gi ảm đ ư ợ c b ằ n gche chan; có hai loại ch e chăn: che chắ n thụ đ ộ n g và che c h ắ n tích cực

- Che chăn thụ động:

Dùng các vật liệu có khả nă ng ngăn cản p h ó n g xạ tốt (các vật liệu có số khối lỏn) nh ư Pb, w , Mo, Cu, Fe C á c vật liệu này cần phải là cá c vật liệu sạch Hệ che chắn thụ đ ộ n g t h ư ờ n g có cấu tạo n h ư sau:

Ngoài c ù n g là lóp Pb, sau đó đến lớp Cd (để hấp thụ bứ c x ạ 72 k e V củ a Pb), tiếp theo là lớp Cu ( hấp thụ tia X củ a Cd), cuối c ù n g là lớp che c h ắ n bới vật liệu

có so z nhỏ hon Cu (dổ hấp thụ tia X đặc t n rn g của Cu)

- Che chắn tích cực:

C h e chăn tích c ụ c t h ư ờ n g là các hệ t r ù n g p h ù n g h o ặ c đối trùng, hệ này rất

có hiệu quả tro ng việc loại bỏ tia vũ trụ

1.4 Hệ phổ kế gam m a hoat độ nhỏ

Phô kế g a m m a d ù n g để xác định n ă n g ỉirợng và h o ạ t độ củ a bức xạ

g a m m a có trong m ầu đo N ă n g lư ợn g bức xạ g a m m a đ ư ợ c xá c đị nh bời vị trí dinh hâp thụ toàn ph ân cu a bức xạ tới detecto C ư ờ n g độ c ủ a b ứ c xạ đ ư ợ c xác đinh qua diện tích cùa đỉnh hâp thụ toàn ph ân này P h ô b ứ c xạ g a m m a đ ư ợc ghi

8

Trang 8

nhận bởi hệ ph ân tích biên độ nhiều kênh và t h ư ờ n g đ ư ợ c x ử lý b ằ n g m á y tính Tuy nhiên, n h ữ n g đ á n h giá ban đầu rất hữu ích trong việc lựa ch ọ n các p h ư ơ n g pháp tổi ưu xử lý phổ P h ổ bức xạ g a m m a g ồ m các đỉnh n ă n g l ư ợ n g n ă m trên nền C o m p to n liên tục và phô ng Diện tích đỉnh phổ- s , p h ô n g v à n ền C o m p t o n -

B tại miền đỉnh p h ổ (hình 2.) đ ư ợc xác định n h ư sau:

Gọi k là sổ kênh d ù n g tính diện tích đỉnh phổ, I- số kê n h d ù n g tính phông; s„ - sô đè m trong kê n h thứ n trong vù ng tính diện tích đỉnh phổ; Bj, Bj - số đếm cùa p h ô n g tro ng các k ê n h bên trái và phải đỉnh phổ Khi đó diện tích đỉnh phổ có thê đư ợc tính theo c ô n g thức sau:

Hì n h 2 P h ư ơ n g p h á p xác định diện tích đỉnh phổ

Và p h ư ơ n g sai của nó:

9

Trang 9

Với các p h é p đo h o ạt độ nhỏ, thời gian đo m ẫ u t h ư ờ n g k h á lớn, do vậy cầnphải tính toán thời gi an đo tối ưu cho đo m ẫ u và đo ph ô n g T ừ cự c tiểu củ a độ lệch chuẩn:

với: Iy- suất lư ợ n g ph át bức xạ g a m m a

8 - hiệu suất ghi bức xạ g a m m a (có hệ số phát ỉy) c ủ a hệ p h ổ kế

Trang 10

Chương II Xây dựng quy trình phân tích hàm lượng Uran, Thori, Kali

H à m lư ợ n g cá c đ ồ n g vị p h ó n g xạ Ư 238, T h 232, K 40 t ro ng các m ẫ u địa chất, đặc biệt trong các m ẫ u m ôi t rư ờ ng th ư ờ n g rất nhỏ D o v ậy để có thê xác định được ch ún g với độ ch ín h xác cao cần phải có hệ đo với độ n h ạ y c a o v à p h ô n g thấp

ít nhât 27 ng à y (> 7 chu kỳ bán huỷ)

Hai p h ư ơ n g p h á p sau đ ư ợ c sử dựng để xác định h àm lư ợ n g ur an i u m ,

thorium, k al i u m tro ng các mẫu:

- P h ư ơ n g ph áp t ư ơ n g đối:

Với p h ư ơ n g p h á p này, ph ô bức xạ g a m m a củ a m ẫ u c h u ẩ n và m ẫ u cần ngh iên cứu đư ợc ghi nhộn Hệ p h ổ kế xác định diện tích các đỉ nh p h ổ đặc t rư n g cho từng đ ồ n g vị T ỷ số các diện tích này được tính toán T r ê n c ơ sở tỷ sổ này

c ũ n g n h ư các t h ô n g sô cùa hệ phô kế và hà m lư ợ n g các đ ồ n g vị cầ n qu an tâm

Trang 11

đã biết trong m ẫ u c hu ẩn , ta xác định đ ư ợc h à m lư ợ n g các đ ồ n g vị tro ng mầu cần ng hiên cứu.

- P h ư ơ n g p h áp tu y ệt đối

P h ư ơ n g p h á p nà y k h ô n g cần m ẫ u chuẩn hàm: H à m lư ợ n g các đ ồ n g vị cần quan tâm đ ư ợ c x á c định trực tiếp qua các số liệu ghi đ ư ợ c trên p h ổ ( n h ư diện tích đỉnh phố, ) và các th ông số của hệ phổ kế ( n h ư hiệu suất ghi, )-

Tr on g đê tài này, c h ú n g tôi quan tâm tới p h ư ơ n g ph áp th ứ 2; xác định h àm lượng u ra n iu m , t ho riu m , k a li u m b ằ n g p h ư ơ n g phcỉp tu yệt đối

T r o n g p h ư ơ n g p h á p tu yệt đối, phổ bức xạ g a m m a củ a m ẫ u n g hi ên cứu được kháo sát; các dính p h ổ n ă n g lư ợn g đặc trung: đỉnh 609 k e V c ho u 238, đỉnh 238 keV cho T h 232; đỉnh 1460 cho K 40 đ ư ợc xác định chính xác cả về vị trí và diện tích T h ô n g q u a các t h ô n g tin có đ ược trên đỉnh phô đặc trưng, ngư ời ta xác định được hoạt độ của đ ồ n g vị phát bức xạ:

H- hoạt độ c ủ a đ ồ n g vị ph át bức xạ đặc trung

I- suất lượng của vạc h n ă n g lượng đặc trư ng

8- hiệu suất ghi bức xạ đặc trư ng cùa hệ phô kế

m- khối lượng m ẫ u đo

t- thời gian đo

S- diện tích din h phô

C h ú n g ta n h ậ n thấy, diện tích đỉnh p h ổ s đ ư ọ c xác định trên p h ổ bức xạ ghi nhận đư ợc; suất lư ợ n g bức xạ I có thể tìm thấy trong cá c b ả n g tra cứu; khối lượng mẫu đo m đ ư ợc xác định trước khi đo; thời gian đo t đ ư ợc xác định trong khi đo Còn m ộ t đại lư ợ n g cần xác định đó là hiệu suất ghi tu y ệt đối của hệ phổ kế

12

Trang 12

11.2 Khảo sát hiệu s u ấ t g h i tuyệt đối của hệ phổ kế

N h ư tro n g c h ư ơ n g I đã trình bày, hiệu suất ghi cù a hệ ph ổ kế g a m m a bándẫn phụ thuộc vào n ă n g lư ợ n g có d ạ n g rất ph ứ c tạp T r o n g bài “ S u r v e y in g the HPGe detec to r ab s o lu t e ef fi c i e n c y ” c h ú n g tôi đã k h ả o sát s ự phụ thuộ c hiệu suât ghi tuyệt đối của d et ec to H P G e v ào năn g lư ợn g bức xạ tới với n g u ồ n có d ạ n g đĩa, đ ư ờ n g kính 1 cm và đặt cách detecto 5 cm Ket quả n h ư sau:

Bảng 4 Sổ liệu thực n g h iệ m hiệu suất ghi tuyệt dổi cùa hệ p h ổ kế Gieni 2000

Trang 13

Hiệu suất ghi

Trang 14

Mình 5 C á c đỉnh có trong m ẫu ch u ẩn để ch u ẩ n hiệu suất ghi

15

Trang 15

Bảng 5 C ác đỉnh n ă n g l ư ợ n g d ù n g xác định hiệu suất ghi c ủ a hệ ph ổ kế I IPGe

Đ ô n g vị N ă n g lượng Suât lượn g

Đe xác đ ịn h hiệu suất ghi của hệ ph ổ kế phụ thuộc v ào n ă n g lư ợn g bức xạ

g a m m a ghi n h ậ n t r o n g t r ư ờ n g h ợ p m ẫu đo k h ô n g có d ạ n g hì n h đĩa, m à có d ạn g hình trụ, c h ú n g tôi đã s ử d ụ n g mẫu chuâ n u, Th, K đ ự n g t r o n g h ộp hình trụ (hộp này sẽ đ ư ợc sứ d ụ n g khi đo m ầu cần nghiên cứu) Các sô liệu c ho tro ng bảníi 5

và hỉnh 4, hỉnh 5

16

Trang 16

11.3 Khảo sát sự tích luỹ của Rn222 và con cháu của nó

N h ư đã trình b à y tr on g ph ần II 1 m ột trong các khó k h ă n tro ng việc xácđịnh hàm lư ợn g u 21s trong m ẫ u nghiên cứu là m ẫu cần phải đ ư ợ c nh ố t kín ít nliât

27 ngày trước khi đ o nếu m u ố n sai số do điều này gây ra k h ô n g v ư ợ t q uá 1% Liệu có giải ph áp n ào tránh đ ư ợc việc phải c h ờ tới 1 t h á n g sau khi c h u â n bị mâu mới tiến hà n h đo kh ô n g C á c tác giả M au zi o ri et al đã k h ả o sát q u á trình này

Sau khi m ẫ u đ ư ợ c x ử lý và nh ốt kín c h ú n g ta có các hệ t h ứ c sau:

C h ú n g ta giả thiết rang một phần 4, nào dó cùa R n 222 tạo ra li n lục bị phái

ra từ m ẫu n g u y ê n khối, m ộ t phần khác -X khác thoát ra t ro n g qu á trình xử lý m ẫu (nghiền, x a y , D o vậy ta có 0 < < 1; 0< X <1 •

Trang 18

thời gian (gi ờ)

Hỉnh 6 Hoạt độ p h ó n g xạ của B i 214 sau khi xử lý m ẫ u là h à m số c ù a thời

gian t (a) 0 < t < 24 giờ; (b) 1 < t < 30 ngày; (£, = 0)

19

Ngày đăng: 19/03/2015, 10:05

HÌNH ẢNH LIÊN QUAN

Bảng  1.  Các  giá  trị  tr on g   p h ổ  tính  tỷ  số  đỉnh/nền  C o m p t o n   củ a  det ect o  H P G e - Xây dựng quy trình phân tích hàm lượng phóng xạ U, Th, K trong mẫu địa chất và môi trường
ng 1. Các giá trị tr on g p h ổ tính tỷ số đỉnh/nền C o m p t o n củ a det ect o H P G e (Trang 5)
Bảng 4  Sổ  liệu  thực  n g h iệ m   hiệu  suất  ghi  tuyệt  dổi  cùa  hệ  p h ổ  kế  Gieni  2000 - Xây dựng quy trình phân tích hàm lượng phóng xạ U, Th, K trong mẫu địa chất và môi trường
Bảng 4 Sổ liệu thực n g h iệ m hiệu suất ghi tuyệt dổi cùa hệ p h ổ kế Gieni 2000 (Trang 12)
Bảng  5.  C ác  đỉnh  n ă n g   l ư ợ n g   d ù n g   xác  định  hiệu  suất ghi  c ủ a  hệ  ph ổ  kế  I IPGe - Xây dựng quy trình phân tích hàm lượng phóng xạ U, Th, K trong mẫu địa chất và môi trường
ng 5. C ác đỉnh n ă n g l ư ợ n g d ù n g xác định hiệu suất ghi c ủ a hệ ph ổ kế I IPGe (Trang 15)
Hình  7.  Ph ô  g a m m a   thu  đ ư ợc   củ a  m ẫ u   đ ât   1  và  p h ô n g - Xây dựng quy trình phân tích hàm lượng phóng xạ U, Th, K trong mẫu địa chất và môi trường
nh 7. Ph ô g a m m a thu đ ư ợc củ a m ẫ u đ ât 1 và p h ô n g (Trang 21)

TỪ KHÓA LIÊN QUAN

TÀI LIỆU CÙNG NGƯỜI DÙNG

TÀI LIỆU LIÊN QUAN

🧩 Sản phẩm bạn có thể quan tâm

w