kính hiển vi điện tử Sơ lược về sự ra đời của kính hiển vi điện tử (TEM) và kính hiển vi điện tử quét (SEM) Nguyên tắc hoạt động của máy Sự tạo ảnh Ưu,nhược điểm của máy So sánh TEM và SEM Ứng dụng1. Dòng electron được định dạng và gia tốc về phía mẫu bằng một điện thế dương 2.Dòng này sau đó bị hạn chế và tập trung lại bằng một khẩu độ kim lọai và thấu kính từ để tạo ra dòng nhỏ, hội tụ và đơn sắc.3.Dòng sau đó được hội tụ vào mẫu bằng cách dùng thấu kính từ.4. Các sự tương tác xảy ra bên trong mẫu khi dòng đập vào, tác động đến sóng electron.5.Các sự tương tác này được nhận biết và chuyển đổi thành hình ảnh
Trang 1ĐẠI HỌC QUỐC GIA TP.HCM
TRƯỜNG ĐẠI HỌC KHOA HỌC TỰ NHIÊN
Và KÍNH HIỂN VI ĐIỆN TỬ
Trang 2GIẢNG VIÊN HƯỚNG DẪN:
TS LÊ VŨ TUẤN HÙNG
Trang 3SINH VIÊN THỰC HIỆN:
DƯƠNG THANH TÀI
LÊ THỊ THU THỦY PHẠM THANH TUÂN
LƯ HÀ VÂN BÙI QUỐC VIỆT PHẠM VĂN VIỆT
Trang 5I.LƯỢC SỬ SƠ LƯỢC CỦA SEM VÀ TEM:
Hình 1: Zworykin(1889-1982)-nhà bác học người Nga
Trang 6Hình 2: Ernst Ruska ( 1906–
1988)-nhà vật lý người Đức Hình3: Max Knoll
Trang 8A.TEM(transmission lectron
microscopy )
Hình 5: Kính hiển vi điện tử truyền qua
Trang 9Hình 6: Kính hiển vi điện tử truyền qua tại
Trang 10A.1.KHÁI NIỆM:
Là một thiết bị nghiên cứu, sử dụng chùm điện tử có năng lượng cao chiếu xuyên qua mẫu nhỏ và sử dụng các thấu kính từ để tạo ảnh với độ phóng đại lớn (có thể tới hàng triệu lần), ảnh có thể tạo ra trên màn huỳnh quang, trên film quang học, hoặc ghi nhận bằng các máy chụp kỹ thuật số
p
Trang 11A.2.NGUYÊN TẮC HOẠT ĐỘNG:
A.2.1:NGUYÊN TẮC HOẠT ĐỘNG
CHUNG CỦA SEM VÀ TEM:
♣ Các bước cơ bản trong Electron Microscopy (EM) là:
Trang 121 Dòng electron được định dạng và gia tốc về phía mẫu bằng một điện thế dương
2.Dòng này sau đó bị hạn chế và tập trung lại bằng một khẩu độ kim lọai và thấu kính từ để tạo ra dòng nhỏ, hội tụ và đơn sắc 3.Dòng sau đó được hội tụ vào mẫu bằng cách dùng thấu kính từ.
4 Các sự tương tác xảy ra bên trong mẫu khi dòng đập vào, tác động đến sóng electron.
5.Các sự tương tác này được nhận biết và chuyển đổi thành hình ảnh
Trang 13A.2.2:NGUYÊN TẮC HOẠT ĐỘNG CỦA
TEM:
Điện tử được phát ra từ súng phóng điện tử được tăng tốc bởi một điện
trường lớn (khoảng vài trăm kV) và hội tụ thành một chùm điện tử hẹp (nhờ
hệ diaphragm và thấu kính từ), rồi chiếu xuyên qua mẫu mỏng, từ đó tạo ra ảnh thật của vật trên màn huỳnh quang
Trang 14Sơ đồ hoạt động của TEM & SEM
Trang 16A.2.3:NGUỒN PHÁT ĐIỆN TỬ:
Trang 18Bảng 1: Sự phụ thuộc giữa bước sóng với khối lượng và vận tốc điện tử vào thế tăng tốc:
Trang 19Hình12 :Sơ đồ nguyên lý ống phát xạ trường (Field Emission Tube)
Trang 21Bảng 2: So sánh ống phát tia cathode và ống phát xạ trường:
Trang 22A.3: CẤU TẠO THẤU KÍNH TỪ:
Trang 23SƠ ĐỒ NGUYÊN LÝ THẤU KÍNH TỪ:
Trang 24A.4:SỰ TẠO ẢNH TRONG TEM:
Có nhiều cách tạo ảnh như:
Tạo hình ảnh thật của vật thể(trường tối trường sáng)
Ảnh nhiễu xạ điện tử(electron diffraction)
Ảnh cấu trúc domain (ảnh Lorentz)
Trang 25Hình : Tạo hình ảnh thật của vật thể:
Ta coi các chùm điện tử như tia sáng chiếu qua vật,
và khúc xạ qua thấu kính
từ để tạo ảnh trên màn huỳnh quang Ảnh đó gọi
là ảnh trường sáng (Bright Field Image)
Trang 26Ảnh trường tối (Dark Field Image), nhằm quan sát các độ tương phản khác nhau Nguyên lý của
DF là tạo ảnh từ các chùm tia điện tử bị tán xạ theo những góc khác nhau
Trang 27Hình 19: Tạo ảnh nhiễu xạ điện tử:
Phương pháp nhiễu xạ lựa chọn vùng điện tử
(Selected Area Electron Diffraction - SAED): có thể hiểu đơn giản là dùng chùm điện tử song song chiếu vuông góc với mẫu Ảnh tạo ra giống như hình ảnh giao thoa quang học qua lỗ tròn, tức là gồm các vòng tròn đồng tâm
Trang 28Phương pháp nhiễu xạ bằng chùm điện tử hội tụ (Convergent Beam
Electron Diffraction - CBED) Hiểu đơn giản là dùng chùm điện tử hội tụ chiếu xuyên qua mẫu để tạo ảnh nhiễu xạ
Trang 30Hình 20: Ảnh cấu trúc domain (ảnh Fresnel):
Dùng để nghiên cứu cấu trúc domain của các vật liệu từ tính
Khi điện tử truyền qua mẫu đó, sẽ tán xạ khác nhau ở các vùng mà mô men từ định hướng khác nhau, người ta dựa trên
sự lệch hướng của điện
tử sau khi truyền qua đó
để thu ảnh Fresnel cấu trúc domain
Trang 31CHUẨN BỊ MẪU:
Vậy những mẫu như thế nào có thể quan sát bằng TEM?
Trang 32Một số loại tương tác với mẫu:
Trang 33A.5: Các phương pháp làm mỏng mẩu:
Cắt các lát mỏng
Mài cơ học
Ăn mòn
Trang 34Hình 21: Sơ đồ ăn mòn điện hóa và bằng chùm ion:
Trang 35Hình 22: Sử dụng chùm ion hội tụ:
Trang 36Hình 23: Ảnh chụp của TEM:
Ảnh của mẫu Fe3O4
Trang 37B.SEM (Scanning Electron
Microscope )
Trang 39B.2:NGUYÊN TẮC HOẠT ĐỘNG:
Trang 40Hình 25: Thiết bị kính hiển vi điện tử quét Jeol 5410 LV tại Trung tâm Khoa học Vật liệu, Đại học Quốc gia Hà Nội
Trang 41Hình 26: Sơ đồ khối kính hiển vi điện tử quét:
Trang 42SEM tạo ra hình ảnh bằng electron thứ cấp phát xạ từ
bề mặt mẩu do chùm sóng electron ban đầu đập vào Trong SEM, chùm electron nhỏ được quét ngang qua mẫu, đồng thời tín hiệu sinh
ra được thu nhận và hình ảnh
sẽ được thể hiện lại bằng cách ánh xạ tín hiệu với vị trí của sóng theo từng pixel
(điểm) một Tín hiệu được quan sát trên cùng vị trí của mẫu khi chùm electron đến
Trang 43Sơ đồ hoạt động của TEM & SEM
Trang 44B.3:SỰ TẠO ẢNH TRONG SEM:
Khi electron đập vào mẫu thì có các trường hợp xảy ra như sau:
-Nếu không va chạm với nguyên tử,nó sẽ tiếp tục di chuyển đến va chạm với màn hình
-Nếu electron va chạm với mẫu (va chạm không đàn hồi),khi
đó các electron đến màn hình sẽ không xác định được năng lượng và góc tới gây nhiễu ảnh
-Nếu electron va chạm đàn hồi thì năng lượng của nó không đổi và tuân theo định luật bảo toàn momen xác định được góc tới các electron này dùng để cho thông tin
về mẫu với độ phân giải cao
Trang 45MỘT SỐ HÌNH ẢNH CHỤP QUA SEM:
Phấn hoa chụp qua SEM Ảnh chụp của một loại tảo
(phóng đại khoảng 500 lần)
Trang 46Và còn rất nhiều hình ảnh được phóng đại qua SEM (Tham khảo thêm)
Trang 47II:ƯU,NHƯỢC ĐIỂM CỦA MÁY:
II.1:ƯU ĐIỂM:
۩.ƯU ĐIỂM CỦA SEM:
☻Kính hiển vi điện tử quét có điểm mạnh là phân tích mà không cần phá hủy mẫu vật và có thể hoạt động ở chân không thấp
☻Một điểm mạnh khác của SEM là các thao tác
điều khiển đơn giản =>dễ sử dụng.
☻Một điều khác là giá thành của SEM thấp hơn rất nhiều so với TEM, vì thế SEM phổ biến hơn rất nhiều so với TEM
Trang 48۩.ƯU ĐIỂM CỦA TEM:
Có độ phóng đại lớn,vì vậy có thể nghiên cứu ở mức nanomet
Là phương pháp cực kì hiệu quả cho việc
nghiên cứu cấu trúc của vật liệu nano
Có ưu điểm trong việc nghiên cứu nhiễu xạ
Trang 49II.2:KHUYẾT ĐIỂM:
۩.KHUYẾT ĐIỂM CỦA SEM:
☺Hình ảnh thu được dạng 2D (không thu được dang 3D)
☺Đòi hỏi người vận hành phải có kinh
nghiệm
Trang 50۩.KHUYẾT ĐIỂM CỦA TEM:
Trang 51III.So sánh giữa TEM và SEM:
Vài thông số khác nhau:
SEM TEM
Trung bình 2nm 10nm
Độ phân giải
Đặc biệt 0.2nm 0.5nm
Độ sâu trường cao trung bình
Kỹ thuật chuẩn bị dễ dàng kỹ năng cao
Kiểu của mẩu không sống không sống
Độ dày mẩu thay đổi rất mỏng
Môi trường đặt mẩu chân không chân không
Ảnh thu được 2-D 3-D
Trang 52IV.ỨNG DỤNG CỦA TEM & SEM:
Được sử dụng rất nhiều trong khoa học vật
liệu,trong luyện kim và trong sinh học
Cho phép ta xác định các thông số như:
●Thành phần hóa học
●Độ dài và góc liên kết
●Cấu trúc điện tử
Trang 53TÀI LIỆU THAM KHẢO:
●Nguyễn Văn Đến,Quang phổ nguyên tử và ứng dụng,NXB ĐHQG TPHCM,2002
●Lê Văn Hiếu,Vật Lý Điện Tử,NXB ĐHQG TPHCM,2004
Trang 54THE END.
*****
KÍNH CHÚC SỨC KHỎE THẦY
VÀ CÁC BẠN !!!