PIN LITHIUM-ION THỨ CẤP DÙNG ĐỂ TRUYỀN LỰC CHO PHƯƠNG TIỆN GIAO THÔNG ĐƯỜNG BỘ CHẠY ĐIỆN PHẦN 1: THỬ NGHIỆM TÍNH NĂNG

Tiêu chuẩn này nhằm quy định các quy trình thử nghiệm để đạt được đặc tính thiết yếu của các pin lithium-ion dùng cho ứng dụng truyền lực cho phương tiện giao thông liên quan đến dung lư

TIÊU CHUẨN QUỐC GIA TCVN 12241-1:2018 IEC 62620-1:2018

PIN LITHIUM-ION THỨ CẤP DÙNG ĐỂ TRUYỀN LỰC CHO PHƯƠNG TIỆN GIAO THÔNG ĐƯỜNG

BỘ CHẠY ĐIỆN - PHẦN 1: THỬ NGHIỆM TÍNH NĂNG

Secondary lithium-ion cells for the propulsion of electric road vehicles - Part 1: Performance testing

Lời nói đầu

TCVN12241-1:2018 hoàn toàn tương đương với IEC 62660-1:2018;

TCVN 12241-1:2018 do Ban kỹ thuật tiêu chuẩn quốc gia TCVN/TC/E1 Máy điện và khí cụ điện biên

soạn, Tổng cục Tiêu chuẩn Đo lường Chất lượng đề nghị, Bộ Khoa học và Công nghệ công bố

Bộ TCVN 12241 (IEC 62660), Pin lithium-ion thứ cấp dùng để truyền lực cho phương tiện giao thông

đường bộ chạy điện hiện có các phần sau:

- TCVN 12241-1:2018 (IEC 62660-1:2018), Phần 1: Thử nghiệm tính năng;

- TCVN 12241-2:2018 (IEC 62660-2:2018), Phần 2: Độ tin cậy về thử nghiệm quá mức;

- TCVN 12241-3:2018 (IEC 62660-3:2016) Phần 3: Yêu cầu an toàn;

- TCVN 12241-4:2018 (IEC TR 62660-4:2017), Phần 4: Phương pháp thử nghiệm thay thế cho thử

nghiệm ngắn mạch bên trong của TCVN 12241-3:2018 (IEC 62660-3:2016).

Tiêu chuẩn này áp dụng cùng với ISO 12405-4 [1]

PIN LITHIUM-ION THỨ CẤP DÙNG ĐỂ TRUYỀN LỰC CHO PHƯƠNG TIỆN GIAO THÔNG

ĐƯỜNG BỘ CHẠY ĐIỆN PHẦN 1: THỬ NGHIỆM TÍNH NĂNG

Secondary lithium-ion cells for the propulsion of elecric road vehicles - Part 1: Performance

testing

1 Phạm vi áp dụng

Tiêu chuẩn này quy định thử nghiệm tính năng và thử nghiệm tuổi thọ của các pin lithium-ion thứ cấp

sử dụng để truyền lực cho phương tiện giao thông đường bộ chạy điện (sau đây gọi là xe điện) kể cả

xe điện chạy acquy (BEV) và xe điện hybrid (HEV)

CHÚ THÍCH 1: Pin lithium-ion thứ cấp được sử dụng đề truyền lực cho các phương tiện giao thông chạy điện hybrid loại cắm vào (PHEV) có thể được thử nghiệm bằng quy trình dùng cho ứng dụng BEV hoặc ứng dụng HEV, theo thiết kế hệ thống acquy, dựa trên thỏa thuận giữa nhà chế tạo và khách hàng

Tiêu chuẩn này nhằm quy định các quy trình thử nghiệm để đạt được đặc tính thiết yếu của các pin lithium-ion dùng cho ứng dụng truyền lực cho phương tiện giao thông liên quan đến dung lượng, mật

độ công suất, mật độ năng lượng, tuổi thọ bảo quản và tuổi thọ

Tiêu chuẩn này cung cấp các quy trình thử nghiệm tiêu chuẩn và các điều kiện để thử nghiệm các đặctính tính năng cơ bản của các pin lithium-ion dùng cho các ứng dụng truyền lực cho xe điện là những đặc tính không thể thiếu để giữ mức tính năng cơ bản và có được các dữ liệu thiết yếu về các pin có thiết kế khác nhau của hệ thống acquy và bộ acquy

CHÚ THÍCH 2: Theo thỏa thuận giữa nhà chế tạo và khách hàng, điều kiện thử nghiệm cụ thể có thể được chọn thêm ngoài các điều kiện quy định trong tiêu chuẩn này Các điều kiện thử nghiệm được chọn được mô tả trong Phụ lục A

CHÚ THÍCH 3: Các thử nghiệm tính năng đối với các pin lithium-ion được kết nối điện có thể có được thực hiện tham khảo tiêu chuẩn này

CHÚ THÍCH 4: Các quy định kỹ thuật về thử nghiệm acquy về hệ thống acquy lithium-ion được xác định trong ISO 12405-4(1)

2 Tài liệu viện dẫn

Các tài liệu viện dẫn dưới đây là cần thiết để áp dụng tiêu chuẩn này Đối với các tài liệu viện dẫn có ghi năm công bố thì áp dụng các bản được nêu Đối với các tài liệu viện dẫn không ghi năm công bố thì áp dụng phiên bản mới nhất (kể cả các sửa đổi)

ISO/TR 8713, Electrically propelled road vehicles - Vocabulary (Phương tiện giao thông đường bộ

chạy điện -Từ vựng)

3 Thuật ngữ và định nghĩa

Tiêu chuẩn này áp dụng các thuật ngữ và định nghĩa trong ISO/TR 8713 và các thuật ngữ và định nghĩa dưới đây.

CHÚ THÍCH: n trong Cn là thời gian cơ sở tính bằng giờ (h) Trong tiêu chuẩn này, n = 3 đối với ứng

dụng BEV và n = 1 đối với ứng dụng HEV nếu không có quy định khác

CHÚ THÍCH 1: 1 là khoảng thời gian tính bằng giờ (h)

CHÚ THÍCH 2: Xem IEC 61434:1996 [4], Điều 2

Duy trì điện nạp (charge retention)

Khả năng của pin duy trì được dung lượng ở tình trạng mạch hở trong các điều kiện bảo quản quy định

4 Điều kiện thử nghiệm

4.1 Quy định chung

Phải nêu trong báo cáo kết quả thử nghiệm các chi tiết về thiết bị đo được sử dụng

Thử nghiệm và phép đo phải được thực hiện với lưu ý để tránh ngắn mạch.

CHÚ THÍCH: Thử nghiệm và phép đo có thể được thực hiện trong điều kiện cố định do nhà chế tạo pin khuyến cáo

4.2 Thiết bị đo

4.2.1 Dải đo của thiết bị đo

Thiết bị đo được sử dụng phải cho phép đo được các giá trị điện áp và dòng điện Dải đo của các thiết

bị đo này và các phương pháp đo phải được chọn sao cho đảm bảo độ chính xác quy định đối với từng thử nghiệm

Đối với thiết bị đo analog, điều này ngụ ý là các số đọc phải được lấy trong một phần ba cuối cùng của thang đo

Cho phép sử dụng thiết bị đo khác bất kỳ với điều kiện chúng cho độ chính xác tương đương

Nhiệt độ pin phải được đo bằng cách sử dụng thiết bị đo nhiệt độ bề mặt có thang đo tương đương và

độ chính xác như quy định trong 4.2.1 Nhiệt độ cần được đo ở vị trí phản ánh sát nhất nhiệt độ của pin Nhiệt độ có thể được đo ở các vị trí thích hợp khác nếu cần

Các ví dụ về đo nhiệt độ được thể hiện trên Hình 1 Phải tuân thủ các hướng dẫn đo nhiệt độ do nhà chế tạo quy định

Hình 1 - Ví dụ về đo nhiệt độ của pin 4.2.5 Các phép đo khác

Các giá trị khác có thể được đo bằng cách sử dụng thiết bị đo với điều kiện là phù hợp với 4.3

4.3 Dung sai

Độ chính xác tổng của các giá trị kiểm soát hoặc đo, so với các giá trị quy định hoặc thực tế phải nằm trong các dung sai sau:

a) ± 0,1 % đối với điện áp;

b) ± 1 % đối với dòng điện;

c) ± 2 K đối với nhiệt độ;

d) ± 0,1 % đối với thời gian;

e) ±0,1 % đối với khối lượng;

f) ± 0,1 % đối với kích thước

Các dung sai này bao gồm độ chính xác kết hợp của các thiết bị đo, kỹ thuật đo được sử dụng, và tất

cả các nguồn sai số khác bất kỳ trong quy trình thử nghiệm

4.4 Ổn định nhiệt

Để ổn định nhiệt độ pin, pin phải được đặt trong nhiệt độ thử nghiệm quy định trong tối thiểu 12 h Thời gian này có thể được giảm xuống nếu đạt được ổn định nhiệt, ổn định nhiệt được coi là đạt đượcnếu sau một khoảng thời gian 1 h, sự thay đổi nhiệt độ pin thấp hơn 1 K

D chiều dài tổng (kể cả các đầu nối)

E chiều dài tổng (không kể các đầu nối)

Hình 2 - Ví dụ về kích thước lớn nhất của pin

CHÚ THÍCH: Pin hình lăng trụ được cung cấp cùng với vỏ kim loại cứng hoặc vỏ màng mềm nhiều lớp Pin hình lăng trụ có vỏ màng mềm nhiều lớp thường được gọi là pin túi

Thể tích của pin hình lăng trụ được tính bằng tích của chiều cao tổng không tính các đầu nối, chiều rộng tổng và chiều dày tổng, và thể tích của pin hình trụ được tính bằng tích của tiết diện của phần hình trụ và chiều cao tổng của chúng không tính các đầu nối.

6 Đo khối lượng

Khối lượng của pin được đo đến ba chữ số có nghĩa theo các dung sai cho trong 4.3

7 Đo điện

7.1 Quy định chung

Trong mỗi thử nghiệm, điện áp, dòng điện và nhiệt độ đều phải được ghi vào báo cáo

Trước mỗi thử nghiệm, nhiệt độ của pin phải được ổn định ở nhiệt độ phòng theo 4.4, nếu không có quy định khác

Nhiệt độ môi trường phải là nhiệt độ phòng nếu không có quy định khác

7.2 Điều kiện chung về nạp điện

Nếu không có quy định khác trong tiêu chuẩn này, trước thử nghiệm đo điện, pin phải được nạp điện như sau

Trước khi nạp, pin phải được phóng điện ở nhiệt độ phòng và ở dòng điện không đổi mô tả trong Bảng 1 xuống điện áp kết thúc phóng điện do nhà chế tạo quy định Sau đó, pin phải được nạp theo phương pháp nạp do nhà chế tạo công bố, ở nhiệt độ phòng

7.3 Dung lượng

Dung lượng của pin phải được đo theo các bước sau

Bước 1 - Pin phải được nạp theo 7.2

Sau khi nạp lại, nhiệt độ của pin phải được ổn định theo 4.4

Bước 2 - Pin được phóng điện ở nhiệt độ quy định với dòng điện không đổi It (A) đến điện áp kết thúc

phóng điện do nhà chế tạo pin cung cấp Phải sử dụng dòng điện phóng và nhiệt độ cho trong Bảng 1.Ngoài Bảng 1, các điều kiện thử nghiệm cụ thể có thể được lựa chọn dựa trên thỏa thuận giữa nhà chế tạo pin và khách hàng Các điều kiện thử nghiệm chọn lọc được cho trong Bảng A.1

Bảng 1 - Điều kiện phóng điện Nhiệt độ

7.4 Điều chỉnh SOC

Các pin thử nghiệm phải được nạp như quy định dưới đây, nếu không có quy định khác Điều chỉnh SOC là quy trình cần tuân thủ để chuẩn bị các pin theo các SOC khác nhau đối với các thử nghiệm trong tiêu chuẩn này

Bước 1 - Pin phải được nạp theo 7.2

Bước 2 - Pin phải được cho nghỉ ở nhiệt độ phòng theo 4.4

Bước 3 - Pin phải được phóng điện ở dòng điện không đổi theo Bảng 1 trong (100 - n)/100 x 3 h đối với ứng dụng BEV và (100 - n)/100 x 1 h đối với ứng dụng HEV, trong đó n là SOC (%) cần điều chỉnhđối với từng thử nghiệm

Mật độ công suất và mật độ công suất phục hồi phải được tính và ghi vào báo cáo đối với từng tổ hợpSOC và nhiệt độ như cho trong 7.5.2.

7.5.2 Phương pháp thử nghiệm

Thử nghiệm phải được thực hiện theo quy trình sau

a) Đo khối lượng

Khối lượng pin phải được đo như quy định trong Điều 6

b) Đo kích thước

Kích thước của pin phải được đo như quy định trong Điều 5

c) Điều chỉnh SOC và nhiệt độ

Thử nghiệm trong 7.5.2 d) phải được thực hiện trong từng tổ hợp SOC và nhiệt độ pin khi bắt đầu thửnghiệm như quy định trong Bảng 2, theo quy trình quy định bởi nhà chế tạo pin

SOC phải được điều chỉnh theo 7.4

Bảng 2 - Điều kiện SOC và nhiệt độ đối với thử nghiệm công suất

Pd là công suất (W);

Ud là điện áp đo được vào thời điểm kết thúc xung 10 s của Idmax phóng điện (V);

Idmax là dòng điện phóng lớn nhất do nhà chế tạo quy định (A).

Nếu Pd là giá trị ước tính thì phải nêu như vậy.

7.5.3.2 Mật độ công suất trên một đơn vị khối lượng

Mật độ công suất theo khối lượng được tính theo công thức (2) và làm tròn đến 3 chữ số có nghĩa

(2)trong đó

ρpd là mật độ công suất (W/kg);

Pd là công suất (W);

m là khối lượng của pin (kg).

7.5.3.3 Mật độ công suất trên một đơn vị thể tích

Mật độ công suất theo thể tích được tính theo công thức (3) và làm tròn đến 3 chữ

số có nghĩa.

(3)trong đó

ρpvlm là mật độ công suất theo thể tích (W/l);

Pd là công suất (W);

V là thể tích của pin (I).

7.5.4 Tính toán mật độ công suất phục hồi

7.5.4.1 Công suất phục hồi

Công suất phục hồi phải được tính theo công thức (4) và làm tròn đến 3 chữ số có nghĩa.

trong đó

Pc là công suất phục hồi (W);

Uc là điện áp đo được vào thời điểm kết thúc của xung 10 s của Icmax nạp (V);

Icmax là dòng điện nạp lớn nhất được nhà chế tạo quy định (A).

Nếu Pc là giá trị ước tính thì phải nêu như vậy.

7.5.4.2 Mật độ công suất phục hồi trên một đơn vị khối lượng

Mật độ công suất phục hồi theo đơn vị khối lượng được tính theo công thức (5) và làm tròn đến 3 chữ số có nghĩa.

(5)trong đó

ρpc là mật độ công suất phục hồi (W/kg);

Pc là công suất phục hồi (W);

m là khối lượng của pin (kg).

7.5.4.3 Mật độ công suất phục hồi trên một đơn vị thể tích

Mật độ công suất phục hồi theo thể tích được tính theo công thức (6) và làm tròn đến 3 chữ số có nghĩa

(6)trong đó

ρpvlmc là mật độ công suất phục hồi (W/l);

Pc là công suất phục hồi (W);

V là thể tích của pin (I).

a) Đo khối lượng

Khối lượng của pin phải được đo như quy định trong Điều 6

b) Đo kích thước

Kích thước của pin phải được đo như quy định trong Điều 5

c) Đo dung lượng

Dung lượng của pin phải được xác định như quy định trong 7.3 ở nhiệt độ phòng

d) Tính điện áp trung bình

Giá trị điện áp trung bình trong khi phóng điện trong thử nghiệm dung lượng nêu trên phải nhận được bằng cách tích phân điện áp phóng theo thời gian và chia kết quả cho thời gian phóng điện Điện áp

trung bình được tính theo cách đơn giản sử dụng phương pháp sau: Các điện áp phóng điện U1,

U2, Un được ghi vào báo cáo cứ sau 5 s từ thời điểm bắt đầu phóng điện và loại bỏ các điện áp

chạm đến ngưỡng điện áp kết thúc phóng điện trong ít hơn 5 s Điện áp trung bình Uavr khi đó được

tính theo cách đơn giản hóa sử dụng công thức (7) và kết quả làm tròn đến ba chữ số có nghĩa.

(7)

7.6.3 Tính toán mật độ năng lượng

7.6.3.1 Mật độ năng lượng trên một đơn vị khối lượng

Mật độ năng lượng phải được tính theo công thức (8) và công thức (9) bằng cách làm tròn kết quả đến 3 chữ số có nghĩa.

trong đó

Wed là điện năng của pin (Wh);

Cd là dung lượng phóng (Ah) ở 1/3 lt (A) đối với BEV và 1 lt ( (A) đối với HEV;

Uavr là điện áp trung bình trong quá trình phóng điện (V).

(9)trong đó

ρed là mật độ năng lượng theo khối lượng (Wh/kg);

Wed là điện năng của pin (Wh);

m là khối lượng của pin (kg).

7.6.3.2 Mật độ năng lượng trên một đơn vị thể tích

Mật độ năng lượng theo thể tích được tính theo công thức (10) và làm tròn đến 3 chữ số có nghĩa.

(10)trong đó

ρevlmd là mật độ năng lượng theo thể tích (Wh/I);

Wed là điện năng của pin (Wh);

V là thể tích của pin (I).

7.7 Thử nghiệm bảo quản

7.7.1 Quy định chung

Thử nghiệm này nhằm xác định đặc tính duy trì dung lượng của pin trong quá trình bảo quản hoặc không sử dụng và bao gồm thử nghiệm duy trì nạp trong 7.7.2 và thử nghiệm tuổi thọ bảo quản trong 7.7.3

7.7.2 Thử nghiệm duy trì điện nạp

Thử nghiệm này nhằm xác định đặc tính duy trì điện nạp của pin trong quá trình bảo quản kể cả vận chuyển

Đặc tính duy trì điện nạp của pin ở 50 % SOC phải được xác định theo quy trình sau

Bước 1 - Pin phải được nạp điện theo 7.2

Bước 2 - Pin phải được phóng điện đến 50 % SOC theo phương pháp quy định trong 7.4 Sau đó, pinphải được ổn định ở nhiệt độ thử nghiệm trong 1 h.

CHÚ THÍCH: Giá trị SOC có thể được thay đổi theo thỏa thuận giữa khách hàng và nhà chế tạo pin.Bước 3 - Phóng điện pin đến điện áp kết thúc phóng điện ở dòng điện phóng điện 1/3 lt (A) đối với ứng dụng BEV và 1 lt (A) đối với ứng dụng HEV và ở nhiệt độ phòng Dung lượng phóng điện này là

Cb.

Bước 4 - Lặp lại một lần các bước 1 và 2

Bước 5 - Pin phải được bảo quản trong 28 ngày ở nhiệt độ môi trường 45 °C

Bước 6 - Sau bước 5, pin phải được ổn định ở nhiệt độ phòng theo 4.4 Sau đó, phóng điện pin ở dòng điện không đổi 1/3 lt (A) đối với ứng dụng BEV và 1 lt (A) đối với ứng dụng HEV ở nhiệt độ phòng cho đến khi đạt đến điện áp kết thúc phóng điện, và sau đó đo dung lượng của pin Dung

lượng phóng điện này là Cr.

Tỷ số duy trì điện nạp phải được tính theo công thức (11).

Cr là dung lượng của pin sau bảo quản (Ah);

Cb là dung lượng của pin trước bảo quản (Ah)

7.7.3 Thử nghiệm tuổi thọ bảo quản

Thử nghiệm này nhằm xác định đặc tính suy giảm chất lượng của pin trong quá trình bảo quản hoặc không sử dụng của các ứng dụng BEV và HEV

Tuổi thọ bảo quản của pin phải được xác định theo quy trình sau

Bước 1 - Xác định dung lượng, mật độ công suất và mật độ công suất phục hồi của pin theo 7.2, 7.3

và 7.5

Bước 2 - Điều chỉnh SOC của pin đến 100 % đối với ứng dụng BEV, và đến 50 % đối với ứng dụng HEV theo 7.4 Sau đó pin phải được bảo quản trong 42 ngày ở nhiệt độ môi trường 45 °C

Bước 3 - Sau khi bảo quản ở bước 2, pin phải được giữ ở nhiệt độ môi trường theo 4.4 và phóng điện

ở dòng điện không đổi 1/3 lt (A) đối với ứng dụng BEV và 1 It (A) đối với ứng dụng HEV, xuống điện

áp kết thúc phóng điện do nhà chế tạo quy định Sau đó, đo dung lượng của pin Dung lượng phóng điện này là dung lượng duy trì (Ah) Cũng phải đo mật độ công suất và mật độ công suất phục hồi.Bước 4 - Lặp lại ba lần các bước 2 và bước 3

Phải ghi vào báo cáo dung lượng, mật độ công suất, mật độ công suất phục hồi và dung lượng duy trì

đo được ở bước 1 và bước 3

Nếu pin được bảo quản ở nhiệt độ phòng trong suốt thử nghiệm để nghỉ ví dụ như để điều chỉnh thời gian thử nghiệm thì thời gian tổng của giai đoạn nghỉ này phải được ghi vào báo cáo

7.8 Thử nghiệm tuổi thọ

7.8.1 Quy định chung

Thử nghiệm tuổi thọ phải được thực hiện để xác định đặc tính suy giảm của pin do các chu kỳ nạp và phóng điện

Trình tự thử nghiệm tuổi thọ được cho trong Phụ lục B

CHÚ THÍCH 2: Các điều kiện thử nghiệm chọn lọc được cho trong Bảng A.3

7.8.2 Thử nghiệm chu kỳ BEV

7.8.2.1 Đo tính năng ban đầu

Trước thử nghiệm chu kỳ nạp và phóng điện, đo dung lượng, dung lượng phóng điện động và công suất gọi là tính năng ban đầu của pin

- Dung lượng

Dung lượng phải được đo như quy định trong 7.3 ở 25 °C

- Dung lượng phóng điện động CD

Dung lượng phóng điện động CD phải được đo ở 25 °C và 45 °C.

Dung lượng phóng điện động được xác định bằng giá trị dòng điện nạp và phóng điện lượng tích phân theo thời gian được xác định bởi thử nghiệm sau: Phóng điện lặp lại pin đã được nạp đầy theo một profin phóng điện động A quy định trong Bảng 3 và Hình 3 cho đến khi điện áp đạt đến giới hạn dưới quy định bởi nhà chế tạo.

- Công suất

Công suất phải được đo như quy định trong 7.5 ở 25 °C và 50 % SOC

7.8.2.2 Chu kỳ nạp và phóng điện

Thử nghiệm chu kỳ nạp và phóng điện phải được thực hiện như sau

a) Khi bắt đầu thử nghiệm, nhiệt độ pin phải là 45 °C Nhiệt độ môi trường phải là 45 °C

b) Các bước thử nghiệm

Quy trình thử nghiệm từ bước 1 đến bước 5 phải được lặp lại liên tục trong 28 ngày Thời gian nghỉ giữa mỗi bước phải ít hơn 4 h Sau đó, đo tính năng của pin như quy định trong 7.8.2.2 c) Quy trình này phải được lặp lại cho đến khi kết thúc thử nghiệm quy định trong 7.8.2.2 d)

Bước 1 - Pin phải được phóng hết bằng phương pháp do nhà chế tạo quy định

Bước 2 - Các pin phải được nạp đầy bằng phương pháp do nhà chế tạo quy định Thời gian nạp phải

ít hơn 12 h

Bước 3 - Phóng điện pin theo profin phóng điện động A quy định trong Bảng 3 và Hình 3 cho đến khi

dung lượng phóng đạt tương đương 50 % ± 5 % dung lượng phóng điện động ban đầu CD ở 45 °C.

Nếu điện áp đạt đến giới hạn dưới do nhà chế tạo quy định trong bước 3, thử nghiệm phải được dừnglại bất kể quy định trong 7.8.2.2 d), và tính năng của pin phải được đo tại điểm này như quy định trong7.8.2.2 c)

Nếu nhiệt độ của pin đạt đến giới hạn trên do nhà chế tạo quy định trong bước 3 thì thời gian

nạp/phóng bước 20 trong Bảng 3 có thể được kéo dài đến giá trị thích hợp Khoảng thời gian thực tế phải được ghi vào báo cáo

Nếu điện áp đạt đến giới hạn lớn nhất do nhà chế tạo quy định trong bước nạp điện ở Bảng 3 thì nạp với điện áp không đổi ở điện áp lớn nhất phải được áp dụng cho đến khi kết thúc bước này

Trong profin này, công suất thử nghiệm phải được tính bằng cách sử dụng công thức (12)

trong đó

Pmax là công suất thử nghiệm (W);

N là giá trị (1/h) của công suất lớn nhất yêu cầu cho phương tiện của pin (W) chia cho năng lượng

của pin (Wh);

CHÚ THÍCH: Giá trị N = 3/h là một ví dụ dựa trên quy định kỹ thuật của các BEV thương mại

Wed là điện năng của pin ở nhiệt độ phòng (Wh).

Nếu giá trị suy ra từ công thức (12) lớn hơn công suất lớn nhất của pin do nhà chế tạo quy định, công suất thử nghiệm phải được xác định bằng 80 % công suất lớn nhất ở nhiệt độ phòng và ở 20 % SOC

do nhà chế tạo quy định Giá trị công suất được sử dụng thực tế phải được ghi vào báo cáo

Bảng 3 - Profin phóng điện động A dùng cho thử nghiệm chu kỳ BEV

Bước nạp/phóng điện

Khoảng thời gian

-Hình 3 - Profin phóng điện động A dùng cho thử nghiệm chu kỳ BEV

Bước 4 - Phóng điện pin một lần theo profin phóng điện động B (profin leo núi) được quy định trong Bảng 4 và Hình 4 Công suất thử nghiệm phải được tính sử dụng công thức (12)

Nếu điện áp đạt đến giới hạn dưới do nhà chế tạo quy định trong bước 4 thì thử nghiệm phải được dừng lại bất kể quy định trong 7.8.2.2 d), và tính năng của pin phải được đo tại điểm này như quy địnhtrong 7.8.2.2 c)

Nếu điện áp acquy thường đạt đến điện áp giới hạn dưới trong nạp/phóng bước 16, công suất và thờigian phóng điện có thể được thay đổi cho phù hợp Các giá trị thử nghiệm thực tế phải được ghi vào báo cáo

Bảng 4 - Profin phóng điện động B dùng cho thử nghiệm chu kỳ BEV

Bước nạp/phóng điện

Khoảng thời gian